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電子產(chǎn)品為什么要做高低溫老化測(cè)試呢,？
閱讀：7773 發(fā)布時(shí)間：2018-10-11*,，電子產(chǎn)品在生產(chǎn)出廠過(guò)程中,，總有一個(gè)步驟是*的，那就是高低溫老化測(cè)試,。那么,，電子產(chǎn)品為什么要進(jìn)行高低溫老化測(cè)試呢？我相信這個(gè)問(wèn)題很多人都有想過(guò),，那么今天就請(qǐng)跟隨環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)專(zhuān)家——東莞勤卓（高低溫老化箱廠家）一起來(lái)探究一下吧,。
隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子產(chǎn)品的集成化程度越來(lái)越高,，結(jié)構(gòu)越來(lái)越細(xì)微,，工序越來(lái)越多，制造工藝越來(lái)越復(fù)雜,，這樣在制造過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生一些潛伏缺陷,。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí),因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題概括有兩類(lèi)：
類(lèi)是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo),，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求；
第二類(lèi)是潛在的缺陷,，這類(lèi)缺陷不能用一般的測(cè)試手段發(fā)現(xiàn),，而需要在使用過(guò)程中逐漸地被暴露，如硅片表面污染,、組織不穩(wěn)定,、焊接空洞,、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。
一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被激活(暴露),。顯然,，對(duì)每只元器件測(cè)試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，所以需要對(duì)其施加熱應(yīng)力和偏壓,，例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn),，來(lái)加速這類(lèi)缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的,、電的,、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境,，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì),，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過(guò)失效浴盆特性初期階段,，進(jìn)入高可靠的穩(wěn)定期,。
通過(guò)高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過(guò)程中存在的隱患提前暴露,，老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測(cè)量,，篩選剔除失效或變值的元器件，盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之用,，從面保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn),。
東莞市勤卓環(huán)境測(cè)試設(shè)備有限公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)電子產(chǎn)品高低溫老化箱、高低溫試驗(yàn)箱,、恒溫恒濕試驗(yàn)箱,、高低溫沖擊試驗(yàn)箱、紫外光老化試驗(yàn)箱等各種電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備,，通過(guò)多年的不斷努力與客戶的支持與信賴,，勤卓生產(chǎn)研制的試驗(yàn)設(shè)備已經(jīng)應(yīng)用于：航空、航天,、軍事,、IT、通訊,、電器,、汽車(chē)、化工,、塑膠,、橡膠、塑料,、金屬,、建筑,、電線電纜、皮革,、紡織,、醫(yī)藥、機(jī)械,、箱包,、印刷及其高等院校等各大領(lǐng)域。技術(shù),、品質(zhì),、服務(wù)快捷到位，這就是勤卓,！如有需求,，敬請(qǐng)與我們通電，期待您的來(lái)電,！
