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當(dāng)前位置:上海來揚(yáng)電氣科技有限公司>>公司動態(tài)>>影響介質(zhì)損耗測試儀的tgδ因素和結(jié)果的分析
在排除外界干擾,,正確用介質(zhì)損耗測試儀測出tgδ值后,,還需對tgδ的數(shù)值進(jìn)行正確分析判斷。為此,,就要了解tgδ與哪些因素影響有關(guān),。根據(jù)tgδ測量的特點,除不考慮頻率的影響(因施加電壓頻率基本不變)外,,還應(yīng)注意以下幾個方面的問題。
1,、溫度的影響
溫度對tgδ有直接影響,,影響的程度隨材料、結(jié)構(gòu)的不同而異,。一般情況下,,tgδ是隨溫度上升而增加的。現(xiàn)場試驗時,,設(shè)備溫度是變化的,,為便于比較,應(yīng)將不同溫度下測得的tgδ值換算至20℃,。例如,,25℃時測得絕緣油的介質(zhì)損失角為0.6%,查附錄B得25℃時的系數(shù)為0.79,,因此20℃時的絕緣油介質(zhì)損失角即為tgδ20=0.6%×0.78=0.47%,。
應(yīng)當(dāng)指出,由于被試品真實的平均溫度是很難準(zhǔn)確測定的,,換算系數(shù)也不是十分符合實際,,故換算后往往有很大誤差,。因此,應(yīng)盡可能在10~30℃的溫度下進(jìn)行測量,。
有些絕緣材料在溫度低于某一臨界值時,,其tgδ可能隨溫度的降低而上升;而潮濕的材料在0℃以下時水分凍結(jié),,tgδ會降低,。所以,過低溫度下測得的tgδ不能反映真實的絕緣狀況,,容易導(dǎo)致錯誤的結(jié)論,,因此,測量tgδ應(yīng)在不低于5℃時進(jìn)行,。
油紙絕緣的介質(zhì)損耗與溫度關(guān)系取決于油與紙的綜合性能,。良好的絕緣油是非極性介質(zhì),油的電 主要是電導(dǎo)損耗,,它隨溫度升高而增大,。而紙是極性介質(zhì),其年 由偶極子的松弛損耗所決定,,一般情況下,,紙的培 在一40~60℃的溫度范圍內(nèi)隨溫度升高而減小。因此,,不含導(dǎo)電雜質(zhì)和水分的良好油紙絕緣,,在此溫度范圍內(nèi)其邊 沒有明顯變化。對于電流互感器與油紙?zhí)坠?,由于含油量不大,,其主絕緣是油紙絕緣。因此,,對把 進(jìn)行溫度換算時,,不宜采用充油設(shè)備的溫度換算方式,因為其溫度換算系數(shù)不符合油紙絕緣的tgδ隨溫度變化的真實情況,。
當(dāng)絕緣中殘存有較多水分與雜質(zhì)時,,tgδ與溫度關(guān)系就不同于上述情況,tgδ隨溫度升高明顯增加,。如兩臺220kV電流互感器通入50%額定電流,,加溫9h,測取通入電流前后tgδ的變化,,tgδ初始值為0.53%的一臺無變化,,tgδ初始值為0.8%的一臺則上升為1.1%。實際上初始值為0.8%的已屬非良好絕緣,故tgδ隨溫度上升而增加,。說明當(dāng)常溫下測得的tgδ較大,,在高溫下tgδ又明顯增加時,則應(yīng)認(rèn)為絕緣存在缺陷,。
2,、試驗電壓的影響
良好絕緣的tgδ不隨電壓的升高而明顯增加。若絕緣內(nèi)部有缺陷,,則其tgδ將隨試驗電壓的升高而明顯增加,。圖表示了幾種典型的情況:
曲線1是絕緣良好的情況,其tgδ幾乎不隨電壓的升高而增加,,僅在電壓很高時才略有增加,。
曲線2為絕緣老化時的示例。在氣隙起始游離之前,,tgδ比良好絕緣的低,;過了起始游離點后則迅速升高,而且起始游離電壓也比良好絕緣的低,。
曲線3為絕緣中存在氣隙的示例,。在試驗電壓未達(dá)到氣體起始游離之前,tgδ保持穩(wěn)定,,但電壓增高氣隙游離后,,tgδ急劇增大,曲線出現(xiàn)轉(zhuǎn)折,。當(dāng)逐步降壓后測量時,,由于氣體放電可能已隨時間和電壓的增加而增強(qiáng),故tgδ高于升壓時相同電壓下的值,。直至氣體放電終止,,曲線才又重合,因而形成閉口環(huán)路狀,。
曲線4是絕緣受潮的情況。在較低電壓下,,tgδ已較大,,隨電壓的升高tgδ繼續(xù)增大;在逐步降壓時,,由于介質(zhì)損失的增大已使介質(zhì)發(fā)熱溫度升高,,所以吃 不能與原數(shù)值相重合,而以高于升壓時的數(shù)值下降,,形成開口環(huán)狀曲線,。
從曲線4可明顯看到,tgδ與濕度的關(guān)系很大。介質(zhì)吸濕后,,電導(dǎo)損耗增大,,還會出現(xiàn)夾層極化,因而tgδ將大為增加,。這對于多孔的纖維性材料(如紙等)以及對于極性電介質(zhì),,效果特別顯著。
綜上所述,,tgδ與介質(zhì)的溫度,、濕度、內(nèi)部有元氣泡,、缺陷部分體積大小等有關(guān),,通過tgδ的測量發(fā)現(xiàn)的缺陷主要是:設(shè)備普遍受潮,絕緣油或固體有機(jī)絕緣材料的普遍老化,;對小電容量設(shè)備,,還可發(fā)現(xiàn)局部缺陷。必要時,,可以作出tgδ與電壓的關(guān)系曲線,,以便分析絕緣中是否夾雜較多氣隙。對tgδ值進(jìn)行判斷的基本方法除應(yīng)與有關(guān)“標(biāo)準(zhǔn)”規(guī)定值比較外,,還應(yīng)與歷年值相比較,,觀察其發(fā)展趨勢。根據(jù)設(shè)備的具體情況,,有時即使數(shù)值仍低于標(biāo)準(zhǔn),,但增長迅速,也應(yīng)引起充分注意,。此外,,還可與同類設(shè)備比較,看是否有明顯差異,。在比較時,,除tgδ值外,還應(yīng)注意Cx值的變化情況,。如發(fā)生明顯變化,,可配合其他試驗方法,如絕緣油的分析,、直流泄漏試驗或提高測量tgδ值的試驗電壓等進(jìn)行綜合判斷,。
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