產(chǎn)品介紹：

   XAN^® 系列儀器特別適合測量和分析超薄鍍層,，即使鍍層成分復(fù)雜或含量微小也都能準(zhǔn)確測量。該系列產(chǎn)品簡單易用并且性價比高,，因此在同類產(chǎn)品中脫穎而出,。

XAN涂鍍層測厚儀應(yīng)用：

（一）鍍層厚度測量

1、厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層,。

2,、時尚首飾：對代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進(jìn)行分析。

3,、抗磨損鍍層,，如：對化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量來進(jìn)行測量。

4,、測試納米級的基礎(chǔ)金屬化層（凸點(diǎn)下金屬化層,，UBM）。

（二）材料分析

1,、測定黃金首飾等貴金屬,、手表和硬幣的成分與純度。

2,、專業(yè)實(shí)驗(yàn)室,、檢測機(jī)構(gòu)以及科研院校中常規(guī)的材料的分析。

3,、依據(jù) RoHS,、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則,，檢測電子元件,、包裝以及消費(fèi)品中不合要求的其它物質(zhì)（例如重金屬）。

4,、功能性鍍層的成分,，如測定化學(xué)鎳中的磷含量。

XAN涂鍍層測厚儀特性：

1,、操作簡單并且性價比高,。

 2、自下而上來進(jìn)行測量,，從而非?？焖?、簡便地定位樣品。

3,、廣泛適用：為各個行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號,。

4、以非破壞性的方式進(jìn)行鍍層厚度測量與元素分析,。

5,、帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD)的機(jī)型，可對極薄鍍層及微量成分進(jìn)行精確測量,。