一,、概述

DT-220,、DT-230,、DT-240此類儀器采用磁性測厚方法，可無損傷地檢測磁性金屬基鐵（如：鐵,、鋼,、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁,、鉻,、銅、橡膠,、油漆等）,。

DT-220F、DT-230F此類儀器采用渦流測厚方法,，可無損傷地檢測非磁性金屬基體（如銅,、鋁、鋅,、錫等）上非導電覆層的厚度（如：橡膠,、油漆、塑料,、陽極氧化膜等）,。

DT-260、DT-280此類儀器采用磁性,、渦流兩種測厚方法,，可無損傷地檢測磁性金屬基鐵（如：鐵、鋼,、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅,、鋁、鉻,、銅,、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅,、鋁,、鋅、錫等）上非導電覆層的厚度（如：橡膠,、油漆,、塑料、陽極氧化膜等）,。

本儀器廣泛地應用于制造業(yè),、金屬加工業(yè),、化工業(yè)、商檢等檢測領域,。是材料保護專業(yè)*的儀器,。

二、儀器符合標準

DT-220,、DT-230,、DT-240、DT-260,、DT-280此類儀器符合GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測量（磁性方法）,。

DT-220F、DT-230F,、DT-260,、DT-280此類儀器符合GB/T 4957-1985 非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量（渦流方法）。

DT-260,、DT-280此類儀器符合JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測厚儀,。

三、測量原理

1,、磁性法

當測頭與覆層接觸時,，測頭與磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆層的存在,，使磁路磁阻發(fā)生變化,，通過測量其變化量，可測得其覆層的厚度,。

2,、渦流法

利用高頻交變電流線圈中產生一磁場，當測頭與金屬接觸時,，金屬基體上會產生渦流,，并對測頭具有反饋作用，通過其反饋作用的大小可測出覆層厚度,。

四、特點

1,、便攜設計,，手掌大小。

2,、采用高速的DSP芯片,，具有快速的測量能力。

3,、人性化設計,，簡單操作。

4、在雙用探頭時自動識別鐵基和非鐵基材質,，無需手動轉換,。

5、兩種校準方式,，零點校準和二點校準,。

6、寬角度LCD液晶顯示,。

7,、公制和英制單位轉換。

8,、具有電源欠電壓提示,。

9、操作過程有蜂鳴聲提示,。

10,、具有自動關機功能。

五,、規(guī)格參數

.1.

六,、技術參數

七,、顯示說明

• μm表示測量單位微米,。
• mil表示測量單位密耳。
• CAL表示校準提示,。
• Fe表示磁性基體測量狀態(tài),。
• NFe表示非磁性基體測量狀態(tài)。
• 8.8.8.8 表示測量厚度顯示區(qū),。

7,、提示電源欠電壓。

八,、測量時注意事項

1、基體金屬特性

1.1對于磁性方法,，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似,。

1.2對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質,，應當與試件基體金屬的電性質相似,。

2、基體金屬厚度:檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,，如果沒有,，進行校準后，可以測量,。

3,、邊緣效應:不應在緊靠試件的突變處，如邊緣,、洞和內轉角等處進行測量,。

4、曲率:不應在試件的彎曲表面上測量,。

5,、讀數次數:通常由于儀器的每次讀數并不*相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數,。覆蓋層厚度的局部差異,，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此,。

6,、表面清潔度:測量前，應清除表面上的任何附著物質,，如塵土,、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質,。

7,、磁場:周圍各種電氣設備所產生的磁場會嚴重干擾磁性測厚工作。

8,、測頭取向:測頭的放置方式對測量有影響,，在測量時應該與工件保持垂直。

.2.

九,、使用說明

1,、開機：按下ON鍵后儀器聽到一聲鳴響，屏幕上顯示儀器編號GO8100,。自動恢復上次關機前的參數設置后,，將顯示0，儀器進入待測狀態(tài),?？蓽y量工件了,。經過一段時間不使用儀器將自動關機。

2,、測量：儀器會自動感應被測基體：感應到是磁性基體時儀器顯示Fe,；感應到是非磁性金屬是儀器顯示NFe。測量時要手拿儀器手柄凹形處,，探頭垂直于所測量的金屬表面并迅速按下,，待蜂鳴聲響后才拿起儀器！

3,、零位校準：在待測狀態(tài)下將探頭垂直壓在基準塊上,，之后屏幕上會顯示<╳.╳μm>，然后按下“ZERO”鍵進行零位校準,。在上述過程中探頭一直壓在基體上,，直到屏幕顯示（0 CAL）后才能提起探頭。重復零校準可獲得更為的零點,。

注：因我們提供的Fe片和Al片的材質與貴司的基材不*相同即零位并不一樣,，因此zui科學的方法是在貴司實際工件光潔底材上做零位校準！

4,、兩點校準

1,、先校準零位。方法同零位校準,。

2,、將標準膜片放在基準塊上，用儀器測出其值,。若顯示屏上測量值與標準膜片不同,，則可使用▲、▼來修正讀值,，使其達到標準,。校準完成，可以開始測量,。用▲,、▼來修正讀值時請?zhí)崞鹛筋^！

5,、如果儀器顯示數值出現混亂或死機,，需進行恢復出廠設置。見以下第十一條“保養(yǎng)與故障處理”的第3小條操作,，即可進行正常測量,。

十、使用操作步驟

1、同時按住“▲”和“ON”鍵,。

2,、放開“ON”鍵。

3,、待屏幕上會出現 “O”時再松開“▲”，屏幕便顯示FE,儀器進入測頭選擇狀態(tài),。

4,、每按“▲”鍵一次可選擇一次，可依次選擇磁性/鐵基型（屏幕顯示Fe）,、渦流/非鐵型（屏幕顯示NFe）,、 兩用自動型（屏幕顯示Fe NFe）。

5,、按“ZERO”鍵確認所選測頭狀態(tài),。儀器復位后進入所選測頭狀態(tài)進行測量。

十一,、保養(yǎng)與故障處理

1,、環(huán)境要求:嚴格避強磁場、油污,、重塵,、潮濕、重撞,。

2,、更換電池:儀器長期不使用時應取出電池。當儀器出現低電壓提示時應更換電池,，更換電池時請注意極性,。請使用正規(guī)廠家生產的電池，可以避免因電池漏液而導致機器故障,。

3,、故障排除:出現較大誤差（如：校準不當或有操作錯誤等）時可按以下步驟恢復出廠設置。

先同時按住 “ON”和“μm/mil”鍵,，先放開 “ON”鍵,，然后放開“μm/mil”屏幕顯示“8888”時，再按“ON”恢復出廠設置成功,，儀器正常使用,。

十二、出廠清單