納米粉體材料的比表面積

      比表面積是單位質(zhì)量物質(zhì)的表面積（㎡/g）,，它是超細粉體材料,，特別是納米粉體材料zui重要的物性之一，是用于評價他們的活性,、吸附,、催化等多種性能的重要物理屬性。因此在各種超細粉體材料的研究,、制造和應用過程中,，測定其比表面積是十分重要的。隨著超細粉體材料和納米材料的迅猛發(fā)展,，生產(chǎn)和應用各種超微氧化鋅,、氧化鋁、碳酸鈣,、鈷酸鋰,、錳酸鋰、碳黑,、石墨等幾乎所有粉體材料的領(lǐng)域都需測定產(chǎn)品的比表面積,，測定比表面積的儀器已成為許多研究單位、大專院校和工廠*的重要設備,。
      測定比表面積的方法繁多,，如鄧錫克隆發(fā)射法（Densichron Examination）、溴化十六烷基*基銨吸附法（CTAB）,、電子顯微鏡測定法（Electronic Microscopic Examination）,；著色強度法（Tint trength）、氮吸附測定法（NitrogenSurface Area）等,。E. M. Nelson 通過各種方法比較認為低溫氮吸附法是zui可靠,、zui有效、zui經(jīng)典的方法,。美國ASTM,、ISO 均已列入測試標準（D3037和ISO－4650），我國也把該方法列為國家標準（GB-10517）,， 2003 年又列入了納米粉體材料的檢測標準,。
      氮吸附比表面儀是在氣相色譜原理的基礎(chǔ)上發(fā)展而成的。它是以氮氣為吸附質(zhì),，以氦氣或氫氣為載氣,兩種氣體按一定比例混合,，使達到的相對壓力，然后流過粉體材料樣品.當樣品管放入液氮（－196℃）保溫杯時，粉體材料對混合氣中的氮氣發(fā)生物理吸附,，而載氣不被吸附,。這時在色譜工作站（氣體傳感器系統(tǒng)）出現(xiàn)一個吸附峰。當將液氮杯移走時粉體樣品重新回到室溫,，被吸附的氮氣就脫附出來,，在工作站上即出現(xiàn)與吸附峰相反的脫附峰。吸附峰或脫附峰的面積大小正比于樣品表面吸附的氮氣的多少,，也可認為是正比于粉體樣品的表面積,。取一個標樣，比如已知比表面積的粉體材料,，或已知容積的純氮氣,，在工作站中得到一個標樣峰，通過標準峰與待測樣品脫附峰面積的對比,，即可以zui終獲得比表面積,。