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縱波法超聲波探傷儀定量分析-不確定度評定
測量不確定度(簡稱不確定度)是用以表征合理賦予測量值的分散性,,它是評定測量結(jié)果的重要參數(shù)〔1,2〕,,為規(guī)范測量結(jié)果的正確評定和使用,,標(biāo)準(zhǔn)化等七家組織93年聯(lián)合制定了《測量不確定度表達(dá)導(dǎo)則》并廣泛應(yīng)用。96年國內(nèi)在計量檢定工作中開始推廣不確定度,,但在無損檢測定量分析中應(yīng)用尚不廣泛,。為便于與接軌,本文將不確定度應(yīng)用于無損檢測中,,與大家探討,。
縱波法探傷的誤差來源于使用的探傷儀、探頭,、試塊,、工件、耦合劑等,,在缺陷定位測量和定量分析等過程中均存在測量不確定度,,評定不確定度可以表明探傷分析結(jié)果的可靠程度,有很好的推廣價值,。
1 缺陷的定位
按1:n調(diào)節(jié)縱波掃描速度,,缺陷波前沿所對的水平刻度值為τf,則缺陷至探頭的距隔為〔3〕:
Xf=nτf (1)
1.1 儀器,、工件
?。?)EPOCH-Ⅱ超聲波探傷儀;(2)2.25P0.75′探頭,;(3)CSK-Ⅰ試塊,;(4)厚度100 mm工件。
1.2 位置的測定
儀器按1∶1調(diào)節(jié)掃描速度,,水平刻度值為69.64,,缺陷位置:
Xf=nτf=69.64 mm
1.3 不確定度評度
(1)調(diào)節(jié)掃描速度引起的不確定度
掃描速度調(diào)節(jié)時會產(chǎn)生因顯示屏zui小刻度限制的讀數(shù)誤差,。所用儀器水平zui小刻度為0.1,,則讀數(shù)可至zui小刻度1/10即讀數(shù)誤差分布范圍為(-1/10,+1/10)刻度,,為均勻分布,,標(biāo)準(zhǔn)不確定度(以相對不確定度表示)〔4〕:
;其不可靠性為50%,,自由度v1=
(50%)-2=2
?。?)水平影響
儀器的水平線性影響缺陷的定位精度,經(jīng)檢定儀器水平線性為5.7×10-3,,服從正態(tài)分布(k=3),,其標(biāo)準(zhǔn)不確定度:
(B類):其值可靠,,自由度v2=∞
水平刻度誤差受儀器分辯率影響(分辯率0.01),服從均勻分布,,其誤差為1/2分辯率,,分布范圍(-0.005,+0.005)〔5〕,,其標(biāo)準(zhǔn)不確定度(以相對不確定度表示):
,;(B類);讀數(shù)可靠性為50%,,自由度v3=
(50%)-2=2
水平刻度值分別測量10次,,得均值69.64,標(biāo)準(zhǔn)偏差s=0.21,,其標(biāo)準(zhǔn)不確定度(相對確定度表示):
,;(A類):自由度v4=n-1=9
水平刻度合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度為儀器的水平線性、儀器分辯率,、水平刻度值重復(fù)觀測三項標(biāo)準(zhǔn)不確定度的合成,,即為以上三項A類和B類的合成:
(3)結(jié)果評定
各分量的傳遞函數(shù):
缺陷的定位,其合成不確定度:
有效自由度:
取置信水平95%,,tP(0.95)=1.96
缺陷位置為:Xf(1±tPuC(Xf))=69.64(1±8.8×10-3)
其不確定度(合成標(biāo)準(zhǔn))uC(Xf)=Xf.uC(Xf)=0.3127
2 缺陷定量分析
缺陷當(dāng)量大小以下式計算:
(2)
從式(2)中可以看出,,缺陷當(dāng)量大小受缺陷位置、工件厚度,、衰減量的影響,。
2.1 衰減量的變化
檢測中衰減量變化由垂直線性、探頭頻率,、衰減器誤差,、耦合劑、介質(zhì)衰減等引起,。
2.1.1 垂直線性的影響
由下式得垂直線性與衰減關(guān)系:
(3)
式中:H0——理想波高 H1——實測波高(以下以H′1替代H1為一次實測波高,,H″1替代H1為二次實測波高)
①一次波高的影響
傳遞函數(shù)×0.4342944=10.9
線性誤差為4.7×10-2,,服從正態(tài)分布(k=3),,標(biāo)準(zhǔn)不確定度(相對不確定度表示):
(B類);其值穩(wěn)定,,自由度v5=∞。
讀數(shù)誤差為分辯率的1/2,,服從均勻分布范圍(-0.5,,+0.5),標(biāo)準(zhǔn)不確定度(以相對不確定度表示):,;(B類)其估讀可靠性50%,,自由度v6=
(50%)-2=2
一次波高的不確定度由以上兩項A類與B類的合成,,即: 10-2
②二次波高的影響
傳遞函數(shù)
二次波高其線性誤差為4.7×10-2,,其標(biāo)準(zhǔn)不確定度:
u7=u5=1.57×10-2(B類),;自由度v7=v5=∞
讀數(shù)誤差同一次波,u8=u6,v8=v6
線性誤差產(chǎn)生的不確定度為一次波高和二次波高標(biāo)準(zhǔn)不確定度的合成,,即:
2.1.2 頻率引起的衰減
頻率對衰減的影響:
傳遞函數(shù):
頻率誤差10%,,服從正態(tài)分布(k=3),標(biāo)準(zhǔn)不確定度:
,;其值穩(wěn)定,,自由度v9=∞
引起衰減的標(biāo)準(zhǔn)不確定度:
2.1.2 耦合劑影響
改變耦合劑厚度,測量其衰減量,,用統(tǒng)計方法分析得到其不確定度(本次試驗次數(shù)為10次),,試驗得均值5.5 dB,標(biāo)準(zhǔn)偏差s=0.566,,標(biāo)準(zhǔn)不確定度:
以相對不確定度表示:10-2,;自由度v10=10-1=9
讀數(shù)引起的誤差為分辯率的1/2,服從均勻分布,,其分布范圍為(-0.05,,+0.05),標(biāo)準(zhǔn)不確定度:
以相對不確定度表示:,;讀數(shù)可靠性50%,,自由度v11=
(50%)-2=2
衰減器精度的影響(在12dB下測得):
衰減器*.5dB,服從正態(tài)分布(k=3),,標(biāo)準(zhǔn)不確定度:
以相對不確定度表示10-2,;其值穩(wěn)定,自由度v12=∞,。
耦合劑造成衰減量的不確定度為以上三項A類與B類的合成:
2.1.4 介質(zhì)衰減
對工件重復(fù)檢查(10次),,得介質(zhì)衰減,均值為5.3,,標(biāo)準(zhǔn)偏差s=0.2 dB,,標(biāo)準(zhǔn)不確度定:
以相對不確定度表示:;自由度v13=10-1=9
讀數(shù)引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度:u′14=u11=0.029 dB(B類)
以相對不確定度表示:10-3;自由度v14=v11=2
衰減器的影響:u15=u12=0.167 dB(B類)
以相對不確定度表示:×10-2;自由度v15=v12=∞,。
介質(zhì)衰減的不確定度為以上三項A類與B類的合成:
2.1.5 衰減量重復(fù)觀測結(jié)果的變化
對工件測量10次,,得均值6.2,標(biāo)準(zhǔn)偏差s=0.58,其標(biāo)準(zhǔn)不確定度:
以相對不確定度表示:;自由度v16=10-1=9
讀數(shù)誤差引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度:u17=u11=0.029 dB(B類)
以相對不確定度表示:10-3;自由度v17=v11=2
衰減器的影響,,其標(biāo)準(zhǔn)不確定度:u18=u12=0.167 dB(B類)
以相對不確定度表示:10-2,;其值穩(wěn)定,自由度v18=∞。
合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度:
至此,,各類因素影響衰減量的不確定度為:
2.2 厚度影響
10次測量得均值100,,標(biāo)準(zhǔn)偏差s=0.15 mm,標(biāo)準(zhǔn)不確定度:
以相對不確定度表示:u′19=4.74×-4;自由度v19=10-1=9
卡尺zui小讀數(shù)為0.02,,其誤差服從均勻分布,,分布范圍(-0.01,+0.01),,其標(biāo)準(zhǔn)不確定度:
以相對不確定度表示:u′20=5.8×10-5;自由度v20=(50%)-2=2
卡尺不確定度為0.05(k=3),,服從正態(tài)分布,標(biāo)準(zhǔn)不確定度:
以相對不確定度表示:10-4;其值穩(wěn)定,,自由度v21=∞,。
工件厚度合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度由以上三項合成,即:
2.3 缺陷當(dāng)量大小
傳遞函數(shù):
合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度:
以相對不確定度表示:u′c(Φ)=3.08×10-2
有效自由度:
置信水平取95%,,則覆蓋因子:tP(4)=2.78
U=tP.uc(Φf)=2.78×0.0613=0.17
當(dāng)量尺寸大小zui終結(jié)果為Φf=1.99±0.17 mm(其中0.17 mm為試驗結(jié)果的測量不確定度)
3 結(jié)論
通過對縱波法探傷定量分析的測量不確定度的計算與評定,,可知曉探傷定量分析結(jié)果的可靠性程度,并可判定試驗過程與結(jié)果分析的誤差來源及其結(jié)試驗結(jié)果的影響程度,。測量不確定度的評定作為試驗結(jié)果的重要組成部分,,可應(yīng)用于無損檢測定量分析的各個領(lǐng)域。
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