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10L32-9.9X10-A31-P-2.5-OM相控陣探頭應(yīng)用領(lǐng)域
點(diǎn)擊次數(shù)：444 發(fā)布時(shí)間：2023-8-29
10L32-9.9X10-A31-P-2.5-OM相控陣探頭應(yīng)用領(lǐng)域
小底面探頭的優(yōu)勢(shì)特性：可進(jìn)入狹窄的區(qū)域,、（A00探頭的底面面積只有8 × 8平方毫米）、線纜可以從側(cè)面,、背面或上面伸出,、特制的小接觸面楔塊、10L16-A00用于飛機(jī)的劃痕檢測(cè),。
典型應(yīng)用A10探頭：對(duì)6 35毫米到38毫米的厚焊縫進(jìn)行手動(dòng)檢測(cè),、探測(cè)缺陷并定量缺陷、檢測(cè)鑄件,、鍛件,、管道、管件以及各種機(jī)械加工和結(jié)構(gòu)部件,，以探測(cè)出裂紋和焊縫缺陷,。
相控陣技術(shù)的介紹
相控陣超聲檢測(cè)區(qū)別于其它技術(shù)的特性是可以通過(guò)計(jì)算機(jī)控制對(duì)多晶片探頭中的單個(gè)晶片進(jìn)行激勵(lì)（波幅和延遲）。通過(guò)軟件對(duì)多個(gè)壓電復(fù)合材料晶片的激勵(lì)可以生成一條聚焦的超聲聲束,，方法是在發(fā)射聲束的過(guò)程中動(dòng)態(tài)更改聲束的參數(shù),，如：角度、焦距和焦點(diǎn)大小,。要通過(guò)相位上的積極干涉生成一條聲束,，就要以極小的時(shí)間差,，分別觸發(fā)探頭的多個(gè)活動(dòng)晶片。同理,，從所期望的焦點(diǎn)反射的回波會(huì)以可以計(jì)算獲得的時(shí)間偏移觸碰到探頭的不同晶片,。在將每個(gè)晶片接收到的回波信號(hào)匯總之前，需對(duì)這些回波信號(hào)進(jìn)行時(shí)間偏移計(jì)算,。匯總的結(jié)果是生成一個(gè)A掃描,，這個(gè)A掃描會(huì)突出顯示來(lái)自所需焦點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，而弱化來(lái)自被測(cè)樣件其它部位的信號(hào),。
使用軟件控制聲束角度,、焦距和焦點(diǎn)大小
要生成一條超聲聲束，就需要在差別極小的不同時(shí)間對(duì)探
頭的不同晶片進(jìn)行脈沖激勵(lì),。通過(guò)控制探頭晶片之間的時(shí)間延遲,，可以生成具有不同角度、不同焦距及不同焦點(diǎn)大小的聲束,。從所期望的焦點(diǎn)反射的回波會(huì)以可以計(jì)算獲得的時(shí)間偏移觸碰到探頭的不同晶片,。在將每個(gè)晶片接收到的回波信號(hào)匯總之前，需對(duì)這些回波信號(hào)進(jìn)行時(shí)間偏移計(jì)算,。信號(hào)匯總的結(jié)果是生成一個(gè)A掃描,。這個(gè)A掃描會(huì)突出顯示來(lái)自所期望焦點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，而弱化來(lái)自材料其它部位的各種回波,。
使用以電子方式控制的單個(gè)小巧的多晶探頭可以完成多角度檢測(cè)
常規(guī)UT檢測(cè)需要使用多種不同的探頭,。而一個(gè)單個(gè)相控陣（PA）探頭則可以根據(jù)應(yīng)用的要求進(jìn)行配置，以序列方式產(chǎn)生不同的角度和焦點(diǎn),。
無(wú)需移動(dòng)部件而完成高速掃查
雖然相控陣技術(shù)要對(duì)來(lái)自多晶片探頭的許多信號(hào)進(jìn)行處理,，但是我們要知道：其所得到的信號(hào)是一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的射頻（RF）信號(hào)（或A掃描），這個(gè)信號(hào)與任何使用固定角度探頭的常規(guī)系統(tǒng)得到的信號(hào)相同,。這個(gè)信號(hào)與來(lái)自常規(guī)UT系統(tǒng)的任何A掃描一樣,，可被評(píng)估、處理,、過(guò)濾并生成圖像,。基于A掃描創(chuàng)建的B掃描,、 C掃描和D掃描,，也與常規(guī)系統(tǒng)生成的這類圖像一樣。它們之間的區(qū)別在于相控陣系統(tǒng)可以使用單個(gè)探頭完成多角度檢測(cè),。多路傳輸還可以在探頭不動(dòng)的情況下完成掃查：聚焦聲束
由一個(gè)裝有許多晶片的長(zhǎng)相控陣探頭的幾個(gè)晶片創(chuàng)建,。然后聲束被移動(dòng)（或稱多路傳輸）到其它晶片，以在不移動(dòng)探頭的情況下,，沿掃查軸方向?qū)ぜM(jìn)行高速掃查,。這樣探頭就可以不同的檢測(cè)角度進(jìn)行一次以上的掃查,。這個(gè)原理可被應(yīng)用到使用線性相控陣探頭進(jìn)行的平面工件檢測(cè)，也可被應(yīng)用到使用圓形相控陣探頭進(jìn)行的管材和棒材