葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x是評(píng)估植物冠層密度的重要儀器,，它通過(guò)多種技術(shù)原理實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確測(cè)量，在農(nóng)業(yè),、林業(yè),、生態(tài)研究等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，以下是詳細(xì)介紹：

工作原理

光學(xué)傳感技術(shù)：儀器探桿上內(nèi)置多個(gè)高精度傳感器,，可同時(shí)檢測(cè)特定波段（如400-700nm）內(nèi)的光合有效輻射（PAR）,。通過(guò)同時(shí)測(cè)量冠層上方和下方的光照強(qiáng)度，對(duì)比分析光衰減程度,，計(jì)算葉片遮擋比例,，從而推導(dǎo)出葉面積指數(shù)（LAI），而LAI是衡量植物冠層密度的重要參數(shù),。