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蔡司Crossbeam 550高分辨率掃描電子顯微鏡
蔡司Crossbeam 550是一款結(jié)合了高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)和新一代聚焦離子束(FIB)的雙束掃描電子顯微鏡,。該設(shè)備不僅具備出色的成像和分析性能,,還擁有優(yōu)異的加工能力。
蔡司Crossbeam 550通過樣品臺(tái)減速技術(shù)(Tandem decel)實(shí)現(xiàn)低電壓電子束分辨率提升高達(dá)30%,,使得即使在非常低的加速電壓下也能獲得高分辨率、高對(duì)比度和高信噪比的清晰圖像,。這種技術(shù)對(duì)于研究材料的表面結(jié)構(gòu)和性質(zhì)具有重要意義,可以為用戶提供更準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)結(jié)果,。
此外,蔡司Crossbeam 550還具備出色的三維空間分辨率,,能夠在二維表面成像和三維重構(gòu)方面提供優(yōu)異的表現(xiàn),。通過Inlens EsB探測(cè)器,,該設(shè)備可以獲取純的材料成分襯度信息,從而表征不導(dǎo)電樣品而不受荷電效應(yīng)的影響,。這使得蔡司Crossbeam 550在材料科學(xué),、生物醫(yī)學(xué)和納米技術(shù)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。
在聚焦離子束(FIB)方面,,蔡司Crossbeam 550采用了智能的刻蝕策略,使得材料移除速率可提升高達(dá)40%,。同時(shí),該設(shè)備采用了大離子束束流和高達(dá)100nA的離子束束流,,可以顯著節(jié)約時(shí)間,,并獲得高分辨率的FIB束斑形狀,。這使得蔡司Crossbeam 550在樣品制備和加工方面具有很高的效率。
蔡司Crossbeam 550高分辨率掃描電子顯微鏡
總的來說,,蔡司Crossbeam 550是一款功能強(qiáng)大,、高分辨率掃描電子顯微鏡,,具有出色的成像、分析和加工能力,。它適用于各種材料科學(xué)和生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的研究,,為科研工作者提供了強(qiáng)大的實(shí)驗(yàn)工具。
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