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ICP光譜分析的干擾因素

閱讀:3732        發(fā)布時(shí)間:2017-6-1
  ICP光源從本質(zhì)說是由一個(gè)高溫光源(包括RF發(fā)生器及炬管等)和一個(gè)霧化器系統(tǒng)所組成,。從ICP問世到如今的大量實(shí)踐證實(shí),,這種光源所進(jìn)行的分析其所以具有較高精度和正確度,,和光源中的干擾較小是分不開的,。但是這并不是說它不存在干擾的題目。現(xiàn)就ICP光譜分析中出現(xiàn)的干擾題目分述如下,。
 
  1) 物理因素的干擾
 
  由于ICP光譜分析的試樣為溶液狀態(tài),,因此溶液的粘度、比重及表面張力等均對(duì)霧化過程,、霧滴粒徑,、氣溶膠的傳輸以及溶劑的蒸發(fā)等都有影響,而粘度又與溶液的組成,,酸的濃度和種類及溫度等因素相關(guān),。
 
  溶液中含有機(jī)溶劑時(shí),粘試與表面張力均會(huì)降低,,霧化效率將有所進(jìn)步,,同時(shí)有機(jī)試劑大部分可燃,從而進(jìn)步了尾焰的溫度,,結(jié)果使譜線強(qiáng)度有所進(jìn)步,,當(dāng)溶液中含有有機(jī)溶劑時(shí)ICP的功率需適當(dāng)進(jìn)步,以抑制有機(jī)試劑中碳化物的分子光譜的強(qiáng)度,。
 
  除有機(jī)溶劑外,,酸的濃度和種類對(duì)溶液的物理性質(zhì)也有明顯的影響,在相同的酸度時(shí),,粘度以下列的次序遞增HCl≤HNO3由上述所見,,物理因素的干擾是存在而且應(yīng)想法避免,其中zui主要的辦法是使標(biāo)準(zhǔn)試液與待測試樣無論在基體元素的組成,、總鹽度,、有機(jī)溶劑和酸的濃度等方面都保持*一致。目前進(jìn)樣系統(tǒng)中采用蠕動(dòng)泵進(jìn)樣對(duì)減輕上述物理干擾可起一定的作用,,另外采用內(nèi)標(biāo)校正法也可適當(dāng)?shù)匮a(bǔ)償物理干擾的影響,。基體匹配或標(biāo)準(zhǔn)加進(jìn)法能有效消除物理干擾,,但工作量較大,。
 
  2) 光譜干擾
 
  光譜干擾是ICP光譜分析中zui令人頭痛的題目,由于ICP的激發(fā)能力很強(qiáng),幾乎每一種存在于ICP中或引進(jìn)ICP中的物質(zhì)都會(huì)發(fā)射出相當(dāng)豐富的譜線,,從而產(chǎn)生大量的光譜“干擾”,。光譜干擾主要分為兩類,一類是譜線重疊干擾,,它是由于光譜儀色散率和分辨率的不足,,使某些共存元素的譜線重疊在分析上的干擾。另一類是背景干擾,,這類干擾與基體成分及ICP光源本身所發(fā)射的強(qiáng)烈的雜散光的影響有關(guān),。對(duì)于譜線重疊干擾,采用高分辨率的分光系統(tǒng),,決不是意味著可以*消除這類光譜干擾,,只能以為當(dāng)光譜干擾產(chǎn)生時(shí),它們可以減輕至zui小強(qiáng)度,。因此,,zui常用的方法是選擇另外一條干擾少的譜線作為分析線,或應(yīng)用干擾因子校正法(IEC)以予校正,。對(duì)于背景干擾,,zui有效的辦法是利用現(xiàn)代儀器所具備的背景校正技術(shù)給予扣除。
 
  3) 化學(xué)干擾
 
  ICP光譜分析中的化學(xué)干擾,,比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要稍微得多,,因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以忽略不計(jì)。
 
  4) 電離干擾與基體效應(yīng)干擾
 
  由于ICP中試樣是在通道里進(jìn)行蒸發(fā),、離解、電離和激發(fā)的,,試樣成分的變化對(duì)于高頻趨膚效應(yīng)的電學(xué)參數(shù)的影響很小,,因而易電離元素的加進(jìn)對(duì)離子線和原子線強(qiáng)度的影響比其他光源都要小,但實(shí)驗(yàn)表明這種易電離干擾效應(yīng)仍對(duì)光譜分析有一定的影響,。對(duì)于垂直觀察ICP光源,,適當(dāng)?shù)剡x擇等離子體的參數(shù),可使電離干擾抑制到zui小的程度,。但對(duì)于水平觀察ICP光源,,這種易電離干擾相對(duì)要嚴(yán)重一些,目前采用的雙向觀察技術(shù),,能比較有效地解決這種易電離干擾,。此外,保持待測的樣品溶液與分析標(biāo)準(zhǔn)溶液具有大致相同的組成也是十分必要,。例如在巖礦分析中,,常用堿溶法或偏硼酸里分解樣品,給溶液帶來大量的堿金屬鹽類。任何時(shí)候,,兩者在物理,、化學(xué)各方面性質(zhì)的匹配是避免包括電離干擾在內(nèi)的各種干擾,使之不出現(xiàn)系統(tǒng)誤差的重要保證,。
 
  基體效應(yīng)來源等離子體,,對(duì)于任何分析線來說,這種效應(yīng)與譜線激發(fā)電位有關(guān),,但由于ICP具有良好的檢出能力,,分析溶液可以適當(dāng)稀釋,使總鹽量保持在1mg/ml左右,,在此稀溶液中基體干擾往往是無足輕重的,。當(dāng)基體物質(zhì)的濃度達(dá)到幾mg/ml時(shí),則不能對(duì)基體效應(yīng)*置之不顧,。相對(duì)而言,,水平觀察ICP光源的基體效應(yīng)要稍嚴(yán)重些。采用基體匹配,、分離技術(shù)或標(biāo)準(zhǔn)加進(jìn)法可消除或抑制基體效應(yīng),。

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