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一,、電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)介紹：

為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn)。試驗(yàn)?zāi)康耐ǔＳ腥缦聨追矫妫?/SPAN>

  1,、在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況,。

  2,、生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息。

  3,、對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收,。

  4、暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理,。

  5,、為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案,，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù),。 

對(duì)于不同的產(chǎn)品，為了達(dá)到不同的目的,，可以選擇不同的可靠性試驗(yàn)方法,。可靠性試驗(yàn)有多種分類方法,，如以環(huán)境條件來劃分,，可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)。以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分,，可分為環(huán)境試驗(yàn),、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn),。若按試驗(yàn)?zāi)康膩韯澐?，則可分為篩選試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn),。若按試驗(yàn)性質(zhì)來劃分,，也可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)兩大類。但通常慣用的分類法,，是把它歸納為五大類,，即環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、篩選試驗(yàn),、現(xiàn)場(chǎng)使用試驗(yàn)和鑒定試驗(yàn),。 

  1、環(huán)境試驗(yàn)是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境（振動(dòng),、沖擊,、離心、溫度,、熱沖擊,、潮熱、鹽霧,、低氣壓等）條件下的適應(yīng)能力,，是評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性的重要試驗(yàn)方法之一。 

  2,、壽命試驗(yàn)是研究產(chǎn)品壽命特征的方法,，這種方法可在實(shí)驗(yàn)室模擬各種使用條件來進(jìn)行。壽命試驗(yàn)是可靠性試驗(yàn)中zui重要zui基本的項(xiàng)目之一,，它是將產(chǎn)品放在特定的試驗(yàn)條件下考察其失效（損壞）隨時(shí)間變化規(guī)律,。通過壽命試驗(yàn)，可以了解產(chǎn)品的壽命特征,、失效規(guī)律,、失效率、平均壽命以及在壽命試驗(yàn)過程中可能出現(xiàn)的各種失效模式,。如結(jié)合失效分析,，可進(jìn)一步弄清導(dǎo)致產(chǎn)品失效的主要失效機(jī)理，作為可靠性設(shè)計(jì),、可靠性預(yù)測(cè),、改進(jìn)新產(chǎn)品質(zhì)量和確定合理的篩選、例行（批量保證）試驗(yàn)條件等的依據(jù),。如果為了縮短試驗(yàn)時(shí)間可在不改變失效機(jī)理的條件下用加大應(yīng)力的方法進(jìn)行試驗(yàn),，這就是加速壽命試驗(yàn)。通過壽命試驗(yàn)可以對(duì)產(chǎn)品的可靠性水平進(jìn)行評(píng)價(jià),，并通過質(zhì)量反饋來提高新產(chǎn)品可靠性水平,。 

  3、篩選試驗(yàn)是一種對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行全數(shù)檢驗(yàn)的非破壞性試驗(yàn),。其目的是為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔早期失效的產(chǎn)品,，以提高產(chǎn)品的使用可靠性。產(chǎn)品在制造過程中,，由于材料的缺陷,，或由于工藝失控,，使部分產(chǎn)品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障，這些缺陷或故障若能及早剔除,，就可以保證在實(shí)際使用時(shí)產(chǎn)品的可靠性水平,。 

二、可靠性篩選試驗(yàn)的特點(diǎn)是：

1,、這種試驗(yàn)不是抽樣的,，而是100%試驗(yàn)。

2,、該試驗(yàn)可以提高合格品的總的可靠性水平,，但不能提高產(chǎn)品的固有可靠性，即不能提高每個(gè)產(chǎn)品的壽命,。

3,、不能簡(jiǎn)單地以篩選淘汰率的高低來評(píng)價(jià)篩選效果。淘汰率高,，有可能是產(chǎn)品本身的設(shè)計(jì)、元件,、工藝等方面存在嚴(yán)重缺陷,，但也有可能是篩選應(yīng)力強(qiáng)度太高。淘汰率低,，有可能產(chǎn)品缺陷少,，但也可能是篩選應(yīng)力的強(qiáng)度和試驗(yàn)時(shí)間不足造成的。 

通常以篩選淘汰率Q和篩選效果β值來評(píng)價(jià)篩選方法的優(yōu)劣：合理的篩選方法應(yīng)該是β值較大,，而Q值適中,。 

上述各種試驗(yàn)都是通過模擬現(xiàn)場(chǎng)條件來進(jìn)行的。模擬試驗(yàn)由于受設(shè)備條件的限制,，往往只能對(duì)產(chǎn)品施加單一應(yīng)力,，有時(shí)也可以施加雙應(yīng)力，這與實(shí)際使用環(huán)境條件有很大差異,，因而未能如實(shí)地,、全面地暴露產(chǎn)品的質(zhì)量情況。現(xiàn)場(chǎng)使用試驗(yàn)則不同,，因?yàn)樗窃谑褂矛F(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行,，故zui能真實(shí)地反映產(chǎn)品的可靠性問題，所獲得的數(shù)據(jù)對(duì)于產(chǎn)品的可靠性預(yù)測(cè),、設(shè)計(jì)和保證有很高價(jià)值,。對(duì)制定可靠性試驗(yàn)計(jì)劃、驗(yàn)證可靠性試驗(yàn)方法和評(píng)價(jià)試驗(yàn)性,，現(xiàn)場(chǎng)使用試驗(yàn)的作用則更大,。 

鑒定試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品的可靠性水平進(jìn)行評(píng)價(jià)時(shí)而做的試驗(yàn),。它是根據(jù)抽樣理論制定出來的抽樣方案。在保證生產(chǎn)者不致使質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品被拒收的條件下進(jìn)行鑒定試驗(yàn),。

三,、可靠性試驗(yàn)方法：

    電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)方法有多種，下面介紹幾種常用的方法,。 

    *種方法是“試驗(yàn)——問題記錄——再試驗(yàn)"模式,。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)問題時(shí),，不是立即進(jìn)行改進(jìn),，而是把問題記錄下來，待在一個(gè)試驗(yàn)階段結(jié)束以及下一個(gè)階段開始之前,，根據(jù)各種失效模式的失效機(jī)理,，集中地進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗(yàn),。采用這種試驗(yàn)法,，產(chǎn)品可靠性將有較大的躍進(jìn)。這種試驗(yàn)法,，比較適用于一批試驗(yàn)機(jī)中,，出現(xiàn)幾個(gè)問題，其中一種問題是占主要地位而其余問題是次要的情況,。 

    第二種方法是“試驗(yàn)——改進(jìn)——再試驗(yàn)"模式,。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過試驗(yàn),，暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié),，分析產(chǎn)品的失效模式和失效機(jī)理，找出問題就立即改進(jìn),，然后再試驗(yàn)證實(shí)所解決的問題,，使產(chǎn)品的可靠性得到增長(zhǎng)。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段,，通過系統(tǒng)試驗(yàn),，暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)之后，根據(jù)具體情況,，立即進(jìn)行必要的改進(jìn)是能夠使產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長(zhǎng),，這種方法比較適用于試驗(yàn)中只出現(xiàn)一種比較普遍和嚴(yán)重問題的情況，針對(duì)性較強(qiáng),。 

    第三種方法是“含延緩改進(jìn)的試驗(yàn)——改進(jìn)——再試驗(yàn)"模式,。該方法是將方法一和方法二結(jié)合起來，通過試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)了產(chǎn)品的問題,，有些改進(jìn)在試驗(yàn)中了產(chǎn)品的問題,，有些改進(jìn)在試驗(yàn)中立即著手進(jìn)行,，有些延緩到試驗(yàn)結(jié)束后再作改進(jìn)。在試驗(yàn)中,，對(duì)能及時(shí)改進(jìn)的問題,，立即采取措施改進(jìn)產(chǎn)品，提高可靠性,，在試驗(yàn)階段結(jié)束后,，把延緩的問題至下次試驗(yàn)開始前進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗(yàn),，使產(chǎn)品的可靠性得到較大的增長(zhǎng),。這種方法比較適合于試驗(yàn)中出現(xiàn)幾種問題，并且一些問題能短期容易改進(jìn)的,，另一些問題卻需要相當(dāng)一段時(shí)間才能改進(jìn)的綜合情況,。 

    對(duì)于以上所述的三種方法，電子產(chǎn)品在研制階段中,，經(jīng)過系統(tǒng)的試驗(yàn),，要根據(jù)暴露出的問題作具體分析，靈活應(yīng)用,?？煽啃栽囼?yàn)中常用的三種方法往往是周而復(fù)始地循環(huán)，并且一個(gè)循環(huán)比一個(gè)循環(huán)產(chǎn)品的可靠性水平向上增長(zhǎng),，另外可靠性試驗(yàn)除通過系統(tǒng)試驗(yàn)外,，還應(yīng)根據(jù)具體情況通過氣候環(huán)境試驗(yàn),、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)和人為正常使用等各方面的試驗(yàn)來暴露產(chǎn)品生產(chǎn)的薄弱環(huán)節(jié),，進(jìn)行綜合的科學(xué)分析，做相應(yīng)的改進(jìn),，使得電子產(chǎn)品在設(shè)計(jì)研制階段對(duì)其固有可靠性有進(jìn)一步的提高,。 

四、結(jié)束語 

電子產(chǎn)品的可靠性十分重要,，是產(chǎn)品質(zhì)量的主要指標(biāo),。我國(guó)電子儀器的可靠性試驗(yàn)遵循的標(biāo)準(zhǔn)是GB11463《電子測(cè)量?jī)x器可靠性試驗(yàn)》，一般產(chǎn)品在鑒定時(shí)的可靠性指標(biāo)是300H,，如果按常用的定時(shí)截尾試驗(yàn)方案進(jìn)行可靠性考核,，總的試驗(yàn)時(shí)間要達(dá)到10000H左右。由于電子產(chǎn)品在設(shè)計(jì)研制階段經(jīng)歷了反復(fù)多次的“試驗(yàn)——分析——改進(jìn)——再試驗(yàn)"的可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)過程,。在這個(gè)過程中,，由于采取了改進(jìn)設(shè)計(jì)及工藝措施等一系列措施來消除失效，使失效的發(fā)生逐漸減少,，而可靠性得以增長(zhǎng),。我國(guó)的一些電子產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)比較先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)還有差距,，因此必須對(duì)國(guó)內(nèi)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行充分研究，真正從產(chǎn)品方案的論證,、設(shè)計(jì),、生產(chǎn)、試驗(yàn)和使用全過程中對(duì)可靠性水平作出準(zhǔn)確的評(píng)價(jià),，從而大大提高我國(guó)電子產(chǎn)品的可靠性水平,，使產(chǎn)品質(zhì)量達(dá)到*水平。