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近紅外光譜分析儀測(cè)試原理和產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)詳解
近紅外光譜分析儀是一款高性能的光譜分析儀。主要針對(duì)通信波段進(jìn)行精確測(cè)量，適用于光纖激光器,，光纖傳感，空間光通信,，以及光器件波長(zhǎng)損耗特性的光譜測(cè)試,。
近紅外光譜分析儀的原理：
近紅外光是介于可見(jiàn)光和中紅外光之間的電磁波，定義的近紅外光譜區(qū)的波長(zhǎng)范圍,，習(xí)慣上又將近紅外區(qū)劃分為近紅外短波和近紅外長(zhǎng)波兩個(gè)區(qū)域,。分析儀主要是由于分子振動(dòng)的非諧振性使分子振動(dòng)從基態(tài)向高能級(jí)躍遷時(shí)產(chǎn)生的，記錄的主要是含氫基團(tuán)X-H振動(dòng)的倍頻和合頻吸收,。不同團(tuán)或同一基團(tuán)在不同化學(xué)環(huán)境中的近紅外吸收波長(zhǎng)與強(qiáng)度都有明顯差別,，NIR光譜具有豐富的結(jié)構(gòu)和組成信息，非常適合用于碳?xì)溆袡C(jī)物質(zhì)的組成與性質(zhì)測(cè)量,。但在NIR區(qū)域,，吸收強(qiáng)度弱，靈敏度相對(duì)較低，吸收帶較寬且重疊嚴(yán)重,。
近紅外光譜分析儀優(yōu)勢(shì)：
1,、全波長(zhǎng)瞬態(tài)掃描，對(duì)生產(chǎn)線(xiàn)中快速移動(dòng)的樣品實(shí)時(shí)測(cè)量,。
2,、高分辨率二極管陣列技術(shù)，可通過(guò)反射或透射方式實(shí)現(xiàn)樣品的快速連續(xù)分析,。
3,、內(nèi)置儀器標(biāo)準(zhǔn)化，快速,、簡(jiǎn)捷地實(shí)現(xiàn)不同儀器間模型轉(zhuǎn)移,。
4,、分析速度快,，一分鐘內(nèi)同時(shí)檢測(cè)出多個(gè)指標(biāo)。
5,、針對(duì)不同樣品狀態(tài)選擇特定的樣品接口,，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確快速的測(cè)定。
6,、內(nèi)置雙燈源,，自動(dòng)啟動(dòng)備用燈源，儀器可連續(xù)不間斷監(jiān)測(cè)樣品,，同時(shí)保證測(cè)量準(zhǔn)確性,。
7、完善的運(yùn)行保護(hù)系統(tǒng),，較大限度減少儀器維護(hù)量,。
8、可實(shí)現(xiàn)定性定量分析,，更好地實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程控制,。
