*種方法是“試驗(yàn)——問(wèn)題記錄——再試驗(yàn)”模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品,，通過(guò)試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題時(shí)，不是立即進(jìn)行改進(jìn),，而是把問(wèn)題記錄下來(lái),，待在一個(gè)試驗(yàn)階段結(jié)束以及下一個(gè)階段開(kāi)始之前,，根據(jù)各種失效模式的失效機(jī)理,，集中地進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗(yàn),。采用這種試驗(yàn)法,，產(chǎn)品可靠性將有較大的躍進(jìn)。這種試驗(yàn)法,，比較適用于一批試驗(yàn)機(jī)中,，出現(xiàn)幾個(gè)問(wèn)題，其中一種問(wèn)題是占主要地位而其余問(wèn)題是次要的情況,。
    第二種方法是“試驗(yàn)——改進(jìn)——再試驗(yàn)”模式,。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過(guò)試驗(yàn),，暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié),，分析產(chǎn)品的失效模式和失效機(jī)理，找出問(wèn)題就立即改進(jìn),，然后再試驗(yàn)證實(shí)所解決的問(wèn)題,，使產(chǎn)品的可靠性得到增長(zhǎng)。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段,，通過(guò)系統(tǒng)試驗(yàn),，暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)之后，根據(jù)具體情況,，立即進(jìn)行必要的改進(jìn)是能夠使產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長(zhǎng),，這種方法比較適用于試驗(yàn)中只出現(xiàn)一種比較普遍和嚴(yán)重問(wèn)題的情況,，針對(duì)性較強(qiáng)。
    第三種方法是“含延緩改進(jìn)的試驗(yàn)——改進(jìn)——再試驗(yàn)”模式,。該方法是將方法一和方法二結(jié)合起來(lái),，通過(guò)試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)了產(chǎn)品的問(wèn)題，有些改進(jìn)在試驗(yàn)中了產(chǎn)品的問(wèn)題,，有些改進(jìn)在試驗(yàn)中立即著手進(jìn)行,，有些延緩到試驗(yàn)結(jié)束后再作改進(jìn)。在試驗(yàn)中,，對(duì)能及時(shí)改進(jìn)的問(wèn)題,，立即采取措施改進(jìn)產(chǎn)品，提高可靠性,，在試驗(yàn)階段結(jié)束后,，把延緩的問(wèn)題至下次試驗(yàn)開(kāi)始前進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗(yàn),，使產(chǎn)品的可靠性得到較大的增長(zhǎng),。這種方法比較適合于試驗(yàn)中出現(xiàn)幾種問(wèn)題，并且一些問(wèn)題能短期容易改進(jìn)的,，另一些問(wèn)題卻需要相當(dāng)一段時(shí)間才能改進(jìn)的綜合情況,。
    對(duì)于以上所述的三種方法，電子產(chǎn)品在研制階段中,，經(jīng)過(guò)系統(tǒng)的試驗(yàn),，要根據(jù)暴露出的問(wèn)題作具體分析，靈活應(yīng)用,?？煽啃栽囼?yàn)中常用的三種方法往往是周而復(fù)始地循環(huán)，并且一個(gè)循環(huán)比一個(gè)循環(huán)產(chǎn)品的可靠性水平向上增長(zhǎng),，另外可靠性試驗(yàn)除通過(guò)系統(tǒng)試驗(yàn)外,，還應(yīng)根據(jù)具體情況通過(guò)氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)和人為正常使用等各方面的試驗(yàn)來(lái)暴露產(chǎn)品生產(chǎn)的薄弱環(huán)節(jié),，進(jìn)行綜合的科學(xué)分析,，做相應(yīng)的改進(jìn)，使得電子產(chǎn)品在設(shè)計(jì)研制階段對(duì)其固有可靠性有進(jìn)一步的提高,。