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本試驗室能夠按照IEC、MIL、JEDEC,、GR,、ISO、GB,、GJB等各種標準或用戶要求進行高溫老化,、高溫、低溫,、溫度沖擊,、溫度循環(huán)、低氣壓,、高低溫低氣壓,、恒定濕熱、交變濕熱,、HAST,、砂塵、鹽霧腐蝕,、流動氣體腐蝕,、霉菌、集成電路ESD,、產(chǎn)品EMC等試驗,。
可靠性與環(huán)境試室產(chǎn)品故障分析流程： ?試驗室嚴格執(zhí)行FRACAS流程。產(chǎn)品在可靠性試驗過程中出現(xiàn)故障或失效時,，我們會根據(jù)產(chǎn)品所 經(jīng)歷的環(huán)境條件,，給出故障定位，并對故障樣品進行故障或失效分析,，從而給出產(chǎn)品糾正措施建議,。我們
在故障分析過程中，會根據(jù)產(chǎn)品具體故障現(xiàn)象追溯到產(chǎn)品設計,、原材料,、工藝制造等產(chǎn)品生命周期的各個環(huán)節(jié)上，并給出客戶具體有效的改進建議,。
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