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恒溫恒濕試驗(yàn)箱GB/T 5170.5—1996標(biāo)準(zhǔn)簡述

閱讀：956 發(fā)布時間：2011-1-19

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備GB/T 5170.5—1996基本參數(shù)：檢定方法-濕熱試驗(yàn)設(shè)備,恒溫恒濕試驗(yàn)箱GB/T 5170.5—1996標(biāo)準(zhǔn)代替了GB 5170.5～5170.7—85.本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢定項(xiàng)目,、檢定儀器、測量點(diǎn)的位置與數(shù)量,、檢定步驟和檢定數(shù)據(jù)的處理與檢定結(jié)果,。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱GB/T 5170.5—1996標(biāo)準(zhǔn)適用于對GB/T 2423.3《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法》,、GB/T 2423.4《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法》,、GB 2423.9《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法》和 GB 2423.16《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)J:長霉試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。同時也適用于類似設(shè)備的周期檢定,。
下列恒溫恒濕試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文,，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時，所示出版均為有效,。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂,，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)版本的可能性。
GB/T 2423.3—93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T 2423.4—93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
GB 2423.9—89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB 2423.16—90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)J:長霉試驗(yàn)方法
GB/T 5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則
GB 6999—86 環(huán)境試驗(yàn)用相對濕度查算表
檢定項(xiàng)目
檢定項(xiàng)目包括：
—溫度偏差,；
—相對濕度偏差,；
—溫度均勻度；
—溫度波動度,；
—升降溫特性,；
—風(fēng)速。
本標(biāo)準(zhǔn)由國家技術(shù)*1996-12-13批準(zhǔn),，1997-11-01實(shí)施,。

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