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當前位置:北京恒奧德儀器儀表有限公司>>其它儀器儀表>> BGS-6341電子薄膜應(yīng)力分布測試儀1

電子薄膜應(yīng)力分布測試儀1

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號BGS-6341

品       牌恒奧德

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

更新時間:2024-04-17 12:47:58瀏覽次數(shù):1875次

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該產(chǎn)品主要應(yīng)用在微電子,、光電子線上和科研,、教學(xué)等域Si,、Ge,、GaAs等半導(dǎo)體基片及電子薄膜應(yīng)力分布,、光學(xué)零件面形和平整度面形,、 基片曲率
半徑測量測試,。該儀器總測量點數(shù)多, 能給出場面型分布結(jié)果, 適合于微電子線上產(chǎn)量的快速檢驗和微電子研究

電子薄膜應(yīng)力分布測試儀 型號:BGS-6341

該產(chǎn)品主要應(yīng)用在微電子,、光電子線上和科研、教學(xué)等域Si,、Ge,、GaAs等半導(dǎo)體基片及電子薄膜應(yīng)力分布、光學(xué)零件面形和平整度面形,、 基片曲率
半徑測量測試,。該儀器總測量點數(shù)多, 能給出場面型分布結(jié)果, 適合于微電子線上產(chǎn)量的快速檢驗和微電子研究。
儀器基于干涉計量的場測試原理, 可實時觀測面型的分布, 迅速了解被測樣品的形貌及應(yīng)力集中位置, 及時淘汰早期失效產(chǎn)品,。
際*的錯位相移
計算機自動條紋處理
測試過程自動
的曲面補償測試原理
zui大樣品尺寸 ≤100mm (4英寸)
曲率范圍 |R|≥5米
測試度 5%
單片測量時間 3分鐘/片
結(jié)果類型 面形,、曲率半徑、應(yīng)力分布,、公式表示,、數(shù)據(jù)表格
圖形顯示能 三維立體顯示、二維偽彩色顯示,、單截面曲線顯示
電源 AC 220V±10%, 50Hz±5%
zui大耗 100W
外型尺寸(L×W×H) 285mm×680mm×450mm
重量 36kg

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:鵬
: /57196682 /57191006//


 

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