雙電測四探針測試儀  四探針測試儀  針測試儀            型號：GSZ-SDY-5

雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量,利用電探針,、電壓探針的變換,，行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸,、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響,，從而提了測量結(jié)果的準(zhǔn)確度
    使用本儀器行測量時,，由于不需要行幾何邊界條件和探針間距的修正，因而對各種形狀的薄膜材料及片狀材料有廣泛的適用性,。儀器別適用于測量片狀半導(dǎo)體材料電阻率以及硅擴(kuò)散層,、離子注入層、異型外延層等半導(dǎo)體器件和液晶片導(dǎo)電膜,、電熱膜等薄層（膜）的方塊電阻.
    儀器以大規(guī)模集成電路為核心件,別采用了平面輕觸式開關(guān)和各種作狀態(tài)LED示.并應(yīng)用了微計算機(jī),利用GSZ-HQ-710F型微計算機(jī)作為用測量控制及數(shù)據(jù)處理器,使得測量,、計算、讀數(shù)更加直觀,、快速,，并能打印預(yù)置和測量數(shù)據(jù)。

標(biāo)：
1,、測量范圍：電阻率：0.001－200Ω.cm（可擴(kuò)展）
薄層電阻:0.01-2000Ω/口（可擴(kuò)展）
可測晶片厚度：≤3.00mm
2,、恒電源:電分為100mA、1mA,、10mA,、 100ma 四檔 ,；連續(xù)可調(diào),；穩(wěn)定度優(yōu)于0.3%
3、數(shù)字電壓表：量程：0－199.99mV;分辨率：0.01mV度：±0.1%
顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示,。性,、小數(shù)點(diǎn)、量程自動顯示,；
4,、模擬電路測試誤差：（用1、10,、100,、1000 ?電阻測量）≤±0.3%±1字;
5、整機(jī)準(zhǔn)確度：（用0.01至180Ω.cm硅標(biāo)樣片測試）≤4%
6,、用微計算機(jī)能：
A 鍵盤控制測量取數(shù),，自動控制電換向和電、電壓探針的變換,，并行正,、反向電下的測量，顯示出平均值
B 鍵盤控制數(shù)據(jù)處理,，按內(nèi)存公式計算出薄層電阻或電阻率平均值以及百分變化,。
C 鍵盤控制打印測量數(shù)據(jù)。包括測量條件,，各次測量平均值,、zui大值,、zui小值，百分變化等數(shù)據(jù),。
7,、外形尺寸：電氣主機(jī)：360mm×320mm×100mm； 微計算機(jī)：300mm×210mm×105mm
8,、儀器重量：電氣主機(jī)：約4kg,；測試架:約5kg;微計算機(jī):約2.5kg;
9、電源：AC 220V±10%,50Hz,率<25W
10,、測試環(huán)境：溫度23±2℃,；相對濕度≤65％；無頻干擾,；無強(qiáng)光照射,。

2.

產(chǎn)品名稱：壓開關(guān)動性測試儀 開關(guān)動性測試儀 動性測試儀 產(chǎn)品型號：WHBY-GKC-B5