1.片劑硬度儀/片劑硬度測(cè)試儀 型號(hào):HAD-YD1

片劑硬度儀 是用于測(cè)量片劑的壓碎硬度。
適用標(biāo)準(zhǔn)：JB/T20104-2007
 標(biāo):
△ 硬度測(cè)試范圍：2-200N  0.2KG-20KG  
△ 分辨率：0.1N  0.01Kg
△ 硬度測(cè)量度：量程±0.5%
△ 片劑測(cè)試直徑：2-20mm
△ 整機(jī)率：10W
△ 外形尺寸：長(zhǎng)*寬*（280mm *180mm *110mm） 
主要點(diǎn):
① 度壓力傳感器,，保證測(cè)試的度和重現(xiàn)性。
② 手動(dòng)裝片,、手動(dòng)壓片,，操作簡(jiǎn)便。
③ 系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)顯示,、自動(dòng)鎖存、自動(dòng)復(fù)位,、自動(dòng)循環(huán)測(cè)試,、自動(dòng)線性誤差修正、自動(dòng)故障診斷,。
④ 提供單位轉(zhuǎn)換能,，試驗(yàn)前后均可實(shí)現(xiàn)換算。
⑤ 用戶可方便的使用標(biāo)準(zhǔn)砝碼定期對(duì)儀器行測(cè)量度校正

2.無線壓電互感器變比測(cè)試儀 型號(hào):HAD-9500

 產(chǎn)品點(diǎn)

測(cè)量：低壓電互感器二次回路的電,、變比,、比差、角差,、相別,、性、漏電在線測(cè)試監(jiān)控,；變壓器兩側(cè)電大小,、變比在線測(cè)試監(jiān)控；空電,、漏電測(cè)試,；二次回路核相,、相序判斷能。

無線壓變比測(cè)試儀突破傳統(tǒng)結(jié)構(gòu),，為測(cè)量低壓二次回路的電,、變比、漏電而心制的,，采用CT及掩膜數(shù)字集成,，由用壓檢測(cè)儀、低壓電鉗,、主機(jī),、壓緣桿、監(jiān)控軟件等組成,，其無線傳送測(cè)試數(shù)據(jù)能穿透多層樓房障礙,，直線傳輸距離達(dá)300米。若不使用緣桿,，還可以當(dāng)作度低壓鉗形電表,、漏電表使用，能準(zhǔn)確測(cè)出0.01mA～1000A的電或漏電,。 

3.活性炭粒度測(cè)定儀/活性炭粒度測(cè)試儀/活性碳粒度檢測(cè)儀   型號(hào):HAD-LD3

 主要件及主要參數(shù):

測(cè)顆粒粒度測(cè)定儀的主要件及參數(shù)

l         轉(zhuǎn)速：150±2r/min

轉(zhuǎn)軸偏心距：20 ±1mm

2.定時(shí)器

3.電壓：220V    率：0.5KW

4.手持式四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀 型號(hào):HAD-3

概述
HAD-3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器,。該儀器符合單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.HAD 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由HAD-3主機(jī),、選配的四探針探頭等二分組成,，也可加配測(cè)試臺(tái)。
儀器所有參數(shù)設(shè)定,、能轉(zhuǎn)換采用輕觸按鍵輸入,；具有零位、滿度自校能,；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選,；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電,，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用,！
探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配,。有耐磨碳化鎢探針探頭,，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬,、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭,，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜,、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻,。換上四端子測(cè)試夾具,，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低,、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測(cè)量,。配用探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻,。
詳見《四探針探頭點(diǎn)與選型參考》入
儀器具有測(cè)量度,、靈敏度,、穩(wěn)定性好、智能化程度,、結(jié)構(gòu)緊湊,、使用簡(jiǎn)便等點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠,、器件廠,、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體,、半導(dǎo)體,、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測(cè)試。 
三,、基本參數(shù)
1. 測(cè)量范圍,、分辨率
電    阻：     0.010 ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率：     0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方塊電阻：     0.050～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□ 
2. 可測(cè)材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下：
直    徑：HADT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130HADHAD,。
HADT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180HADHAD×180HADHAD。
長(zhǎng)()度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100HADHAD,。.
測(cè)量方位: 軸向,、徑向均可.

 量程劃分及誤差等

4) 適配器作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

凈   重：≤0.3kg

5.數(shù)字式四探針測(cè)試儀/臺(tái)式四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào):HAD-2258C

概述
HAD-2258C型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器,。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》,、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直兩探針法》,、GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測(cè)定直四探針法》并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由主機(jī),、選配的四探針探頭,、測(cè)試臺(tái)等分組成。
主機(jī)主要由恒源,、分辨率ADC,、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定,、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤輸入,；具有零位、滿度自校能,；電壓電自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類能，zui大分類10類,。
探頭選配：根據(jù)不同材料性需要,，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭,，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體,、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻,；也有形鍍金銅合金探針探頭,，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜,、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻,。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻,、金屬導(dǎo)體的低,、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。配用探頭,，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻,。
測(cè)試臺(tái)選配：般四探針法測(cè)試電阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型測(cè)試臺(tái)。二探針法測(cè)試電阻率測(cè)試選HAD-T-K型測(cè)試臺(tái),，也可選配HAD-T-D型測(cè)試臺(tái)以測(cè)試半導(dǎo)體粉末電阻率,，選配HAD-T-G型測(cè)試臺(tái)測(cè)試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器,、探頭和測(cè)試臺(tái)的點(diǎn)與選型參考》
儀器具有測(cè)量度,、靈敏度、穩(wěn)定性好,、智能化程度,、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等點(diǎn),。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠,、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體,、半導(dǎo)體,、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三,、基本參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率（括號(hào)內(nèi)為可向下拓展1個(gè)數(shù)量）
電    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方塊電阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□ 
         （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定)
直    徑： HAD-T-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm,，手持方式不限
HAD-T-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm,，手持方式不限.
長(zhǎng)()度：  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
測(cè)量方位:  軸向、徑向均可

量程劃分及誤差等

作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W

5．外形尺寸： 245mm（長(zhǎng)）×220 mm（寬）×95mm（）

凈   重：≤1.5～2.0kg

溫馨提示：以上產(chǎn)品資料和圖片都是按照順序相對(duì)應(yīng)的