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當(dāng)前位置:北京恒奧德儀器儀表有限公司>>電工儀器儀表>>電阻測量儀表>> HAD0-70601能薄膜性測試儀 薄膜性測試儀
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號HAD0-70601
品 牌恒奧德
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
更新時間:2016-09-08 19:47:22瀏覽次數(shù):1133次
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儀器由四探針測試儀和非晶硅薄膜電導(dǎo)率測量儀兩分組成,。具有測量度,,靈敏度,穩(wěn)定性好,,測量范圍寬,,結(jié)構(gòu)緊湊,,使用方便等點(diǎn),。儀器適用于半導(dǎo)體材料廠,半導(dǎo)體器件廠,,科研單位,,等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能的測試,。 四探針測試儀由主機(jī),測試架等分組成,??梢詼y量片狀,塊狀,,塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率,,測量擴(kuò)散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻),能材料暗電導(dǎo)和光電導(dǎo)及溫度的變化的性,,還可以對金屬導(dǎo)體的低,,中值電阻行測量。測試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和耐磨碳化鎢探針制成,,故定位準(zhǔn)確,,游移率小,壽命長,。 非晶硅薄膜電導(dǎo)率測量儀由樣品室,,溫控系統(tǒng),真空系統(tǒng),,阻測量系統(tǒng)等分組成,。 1. 測量范圍:電阻測量范圍:1×106 1×1017Ω; 電阻率:0.001~200Ω cm; 電導(dǎo)率:0.005~1000s/cm; 2. 可測晶片直徑:200mm×200mm; 3. 探針:碳化鎢或速鋼,;探針間距:1± 0.01mm; 4. 針間緣電阻: ≥ 1000 MΩ,; 機(jī)械游移率:≤0.3%; 5. 本底真空度: ≤10Pa,氣壓可控范圍:10~400Pa; 襯底加熱溫度:室溫度~200℃ | 能薄膜性測試儀![]() |
2.
![]() | 產(chǎn)品名稱:綜合校驗儀 產(chǎn)品型號:HS-VD3002 |
綜合校驗儀 型號:HS-VD3002
本儀器采用三路立LED數(shù)碼顯示系統(tǒng),,內(nèi)置兩組立的穩(wěn)定信號發(fā)生器,,可同時顯示兩路輸出直模擬電壓、電信號及路測量直電,、電壓信號,。本儀器采用交供電、顯示清楚,、穩(wěn)定,,既能使用于實(shí)驗室對自動化儀表行維修、校驗及計量,,又能使用于現(xiàn)場,,對儀表行安裝、調(diào)試及維修,。
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