磁光效應綜合實驗儀（法拉效應和磁光調制）         型號；HAD-FD-MOC-A

1945年,，法拉（Faraday）在探索電磁現(xiàn)象和光學現(xiàn)象之間的時,，發(fā)現(xiàn)了種現(xiàn)象，當束平面偏振光穿過介質時,，如果在介質中,，沿光的傳播方向上加個磁場，就會觀察到光經(jīng)過樣品后偏振面轉過個角度,，亦即磁場使介質具有了旋光性,，這種現(xiàn)象后來稱為法拉效應。

　　法拉效應有許多應用,，它可以作為物質研究的手段,，可以用來測量載子的有效質量和提供能帶結構的知識，還可以用來測量電路中的電和磁場,，別是在激光中,，利用法拉效應的性可以制成光隔離器、光環(huán)形器和調制器等,。

　HAD-FD-MOC-A型磁光效應綜合實驗儀,，是臺綜合研究磁光效應的實驗儀器，通過該實驗儀可以學習法拉效應的原理,，并通過偏振光正交消光法測量樣品的費爾德常數(shù),，還可以通過磁光調制的方法確定消光位置，從而提測量度,，這種由淺入深的測量方法使學生理解測量的方法,。并通過調制的方法可以測量不同磁光樣品的光學性和征參量，另外該儀器可以顯示磁光調制波形,，觀測磁光調制現(xiàn)象,，研究調制幅度和調制深度的原理。本儀器有下列性：1）可對磁光效應差異懸殊的多種磁光介質行實驗,；2）具有大幅度的交調制信號和直勵磁,，且穩(wěn)勵磁正負連續(xù)可調；3）光強輸出大小用數(shù)字顯示,，直觀,；4）調制光接收靈敏度，輸出波形穩(wěn)定,；5）檢偏裝置帶游標測角機構,，分辨率,。

　　儀器主要參數(shù)：

　　1．磁光介質 法拉旋光玻璃

　　2．激光光源 半導體激光器（波長650nm）輸出率 <2.5mW

　　3．直勵磁電 0—5A（連續(xù)可調，數(shù)字顯示）

　　4．調制信號 頻率500Hz（正弦波）

　　5．起偏器角度分辨率 1度

　　6．檢偏分辨率 約3分

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