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塊電阻測試儀是種依照類似的家標準和美A.S.T.M標準,,門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,可用于測量般半導體材料,、導電薄膜(ITO透明氧化膜),,金屬薄膜……等物質(zhì)的薄層電阻。
該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心,;用基準電源和運算放大器組成度穩(wěn)源,;帶回路有效正常示電路;并配以大型LCD顯示讀數(shù),,使儀器具有體積小,、重量輕、外形美,、易操作,、測量速度快、度的點,。
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