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硅橡膠,、導(dǎo)熱硅膠,、鋁基板、陶瓷基板導(dǎo)熱系數(shù)測定儀

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硅膠,、硅橡膠,、導(dǎo)熱硅膠、鋁基板,、陶瓷基板導(dǎo)熱系數(shù)測定儀  型號:XY-DRL-III

,、    概述
      本儀器主要測試薄的熱導(dǎo)體,、硅膠、硅橡膠,、固體電緣材料,、導(dǎo)熱硅膠、導(dǎo)熱樹脂,、氧化鈹瓷,、陶瓷基片、其他鋁基片,、陶瓷基板,、氧化鋁瓷等陶瓷導(dǎo)熱系數(shù)測定。儀器參考標(biāo)準(zhǔn):MIL-I-49456A(緣片材,、導(dǎo)熱樹脂,、熱導(dǎo)玻纖增強);GB 5598-85(氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測定方法),;ASTM D5470-2006(薄的熱導(dǎo)性固體電緣材料傳熱性能的測試標(biāo)準(zhǔn))等,。廣泛應(yīng)用在大中院校,科研單位,,質(zhì)檢和廠的材料分析檢測。


二,、主要參數(shù)
1,、試樣大小:Φ30mm
2,、試樣厚度:0.02-10mm
3,、溫度范圍:40-150℃,可達(dá)300℃.
4,、真空度:-0.09MPa
5,、實現(xiàn)計算機自動測試,并實現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出,。
6,、電源:220V/50HZ
7、測試范圍:0.010~50W/m•k ,10~300W/m•k ,;

8,、測試度:優(yōu)于3%
 
XY-DRL-III型
 
  本儀器主要測試薄的熱導(dǎo)體、固體電緣材料,、導(dǎo)熱硅脂,、樹脂、橡膠,、氧化鈹瓷,、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導(dǎo)熱系數(shù),。檢測材料為固態(tài)片狀,加圍框可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料,。
儀器參考標(biāo)準(zhǔn):MIL-I-49456A(緣片材,、導(dǎo)熱樹脂、熱導(dǎo)玻纖增強),;GB 5598-85(氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測定方法),;ASTM D5470-2006(薄的熱導(dǎo)性固體電緣材料傳熱性能的測試標(biāo)準(zhǔn))等。
     儀器點:帶自動加壓,,自動測厚裝置,,并連計算機實現(xiàn)自動控制。儀器采用6點溫度梯度檢測,,提了測試度,。可檢測不同壓力下熱阻曲線,,采用優(yōu)化的數(shù)學(xué)模型,,可測量材料導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個參數(shù)。
廣泛應(yīng)用在等院校,,科研單位,,質(zhì)檢和廠的材料導(dǎo)熱分析檢測。
    主要參數(shù)
1,、試樣大?。?le;Φ30mm
2、試樣厚度:0.02-20mm
3,、熱控溫范圍:室溫-299.99℃   
4,、冷控溫范圍:0-99.00℃
5、導(dǎo)熱系數(shù)測試范圍:0.01~50W/m*k,1~300W/m*k
6,、熱阻測試范圍:0.05~0.000005m2*K/W
7,、壓力測量范圍:0~1000N
8、位移測量范圍:0~30.00mm
9,、測試度:優(yōu)于3%
10,、試樣可在真空狀態(tài)下試驗,確保測試環(huán)境及度,,真空度0.1MPa.
11,、實驗方式:a、試樣不同壓力下熱阻測試,。b,、材料導(dǎo)熱系數(shù)測試。c,、接觸熱阻測試,。
12,、計算機自動測試,并實現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出,。

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