產(chǎn)品簡介
詳細介紹
硅片缺陷觀測儀 | |||
型號 | SY.29-WDI | ||
圖片 | ![]() | ||
簡介 | 硅片缺陷觀測儀于對硅片的缺陷進行觀察,,效果非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯,、劃痕,、崩邊等。 實時對圖像進行分析,、測量和統(tǒng)計,,提高傳統(tǒng)光學儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機等顯示,、存儲設(shè)備,,能更好的觀測和保存研究結(jié)果; ![]() ![]() 硅片缺陷觀測儀-產(chǎn)品特點 ■ 適用于對硅片的缺陷觀察效果,,非常明顯,,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯,、劃痕,、崩邊等; ■ 使硅片缺陷觀察工作簡單化,,準確化,,同時*程度降低此項工作強度; ■ 實時對圖像進行分析,、測量和統(tǒng)計,,提高傳統(tǒng)光學儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機等顯示,、存儲設(shè)備,,能更好的觀測和保存研究結(jié)果; ■ 使用 1/2"CMOS 感光芯片,,具有體積小,,技術(shù)*,像素較高,, 成像清晰 ,、線條細膩、色彩豐富,; ■ 傳輸接口為 USB2.0 高速接口,, 軟件模塊化設(shè)計 ; ■ 有效分辨率為 200 萬像素,; ■ 所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng),。 |