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型號(hào) SY.29-WDI
品牌
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
所在地 北京市

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品

更新時(shí)間：2017-07-02 18:41:39瀏覽次數(shù)：372

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原價(jià)	￥1500
參考價(jià)	￥1000	￥900	￥800
訂貨量	1-2000臺(tái)	2000-4000臺(tái)	4000-6000臺(tái)

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硅片缺陷觀測(cè)儀于對(duì)硅片的缺陷進(jìn)行觀察,，效果非常明顯,，包括肉眼無(wú)法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò),、劃痕,、崩邊等。

詳細(xì)介紹

硅片缺陷觀測(cè)儀
型號(hào)	SY.29-WDI
圖片
簡(jiǎn)介	硅片缺陷觀測(cè)儀于對(duì)硅片的缺陷進(jìn)行觀察,，效果非常明顯,，包括肉眼無(wú)法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò),、劃痕,、崩邊等。實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析,、測(cè)量和統(tǒng)計(jì),，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示,、存儲(chǔ)設(shè)備,，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果；硅片缺陷觀測(cè)儀-產(chǎn)品特點(diǎn) ■ 適用于對(duì)硅片的缺陷觀察效果,，非常明顯,，包括肉眼無(wú)法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò),、劃痕,、崩邊等； ■ 使硅片缺陷觀察工作簡(jiǎn)單化,，準(zhǔn)確化,，同時(shí)程度降低此項(xiàng)工作強(qiáng)度； ■ 實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析,、測(cè)量和統(tǒng)計(jì),，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示,、存儲(chǔ)設(shè)備,，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果,； ■ 使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有體積小,，技術(shù),，像素較高，成像清晰 ,、線條細(xì)膩,、色彩豐富； ■ 傳輸接口為 USB2.0 高速接口,，軟件模塊化設(shè)計(jì) ,； ■ 有效分辨率為 200 萬(wàn)像素； ■ 所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng),。