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BX-Y1228B-半自動(dòng)四探針觸屏測試儀
  • BX-Y1228B-半自動(dòng)四探針觸屏測試儀

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更新時(shí)間：2025-02-13 21:00:07

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傳感器
晶圓,、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測量,；選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片,；表面鈍化片,；交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片,；新型電極設(shè)計(jì)，如電鍍銅電阻測量等,；半導(dǎo)體材料分析,，鐵電材料，納米材料,，太陽能電池,，LCD，OLED,，觸摸屏等.

關(guān)鍵詞：

四探針測試儀   探針測試機(jī)   半自動(dòng)四探針測試儀   數(shù)字四探針測試儀   四偵針觸屏測試儀

Y1228B.png

產(chǎn)品用途：

四點(diǎn)探針標(biāo)準(zhǔn)測試方法,，采用步進(jìn)系統(tǒng)自動(dòng)控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結(jié)果的影響,；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),；測量方塊電阻、電阻率,、電導(dǎo)率數(shù)據(jù),、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)自動(dòng)點(diǎn)測模式或手動(dòng)點(diǎn)測模式，同一位置的重復(fù)測試或多點(diǎn)的面電阻測量,，報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析,；提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.

儀器特點(diǎn)：

晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測量,；選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片,；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片；新型電極設(shè)計(jì),，如電鍍銅電阻測量等,；半導(dǎo)體材料分析，鐵電材料,，納米材料,，太陽能電池，LCD,，OLED,，觸摸屏等.

技術(shù)參數(shù)：

規(guī)格型號(hào)

BX-Y1228B

1.電阻

10-4～1×107Ω

2.方塊電阻

10-4～1×107Ω/□

3.電阻率

10-5～2×108Ω-cm

4.測試電流

10mA ---200pA

5.電流精度

±2%

6.電阻精度

≤10%

7.PC軟件操作

PC軟件界面：電阻、電阻率,、電導(dǎo)率、方阻,、溫度,、單位換算、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度 ,、數(shù)據(jù)管理分析：過程數(shù)據(jù)，大,、小值,，均值，方差,，變異系數(shù),，樣品編號(hào)，測試點(diǎn)數(shù)統(tǒng)計(jì)報(bào)表生成等

8.探針范圍選購：

探針壓力為100-550g,；依據(jù)樣品接觸需要手動(dòng)調(diào)節(jié)

9.探針

針間絕緣電阻：≥1000MΩ,；機(jī)械游移率：≤0.3%

圓頭銅鍍金材質(zhì)，探針間距1mm,；2mm,；3mm選配，其他規(guī)格可定制

10.可測晶片

尺寸選購

晶圓尺寸：2-12寸（6寸150mm,，12寸300mm）,；

方形片：大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm

11.分析模式

自動(dòng)或手動(dòng)單點(diǎn)模式

12.加壓方式

測量重復(fù)性：重復(fù)性≤3%

13.防護(hù)功能

具有限位量程和壓力保護(hù);誤操作和急停防護(hù);異常警報(bào)

14.測試環(huán)境

實(shí)驗(yàn)室環(huán)境

15.電源

輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<100W

16.選購項(xiàng)目

電腦和打印機(jī)




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