關鍵詞：四探針液晶電阻率測試儀

電阻率測試儀系統(tǒng)   四探針電阻率測試儀   導體電阻率測試儀   高精度電阻率測試儀   表面體積電阻率測試儀

產(chǎn)品用途：

覆蓋膜;導電高分子膜,，高,、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射,、涂覆,、涂布層，電阻式,、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊,、晶片電阻率及擴散層,、外延層、ITO導電箔膜,、導電橡膠等材料方塊電阻半導體材料/晶圓,、太陽能電池、電子元器件,，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜,，導電漆膜,，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜,，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率導電性油漆,，導電性糊狀物，導電性塑料,，導電性橡膠,，導電性薄膜,，金屬薄膜，EMI防護材料,，導電性纖維,，導電性陶瓷等，提供中文或英文兩種語言操作界面選擇.

儀器特點：

四探針液晶電阻率測試儀采用四探針組合雙電測量方法,，液晶顯示,，自動測量，自動量程,，自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng),、恒流輸出；選配：PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量,。該儀器設計參考國標單晶硅物理測試方法及A.S.T.M標準,。利用電流探針、電壓探針的變換,，進行兩次電測量,，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸,、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響.

技術參數(shù)：

1.方塊電阻 10^-5～2×10^5Ω/□

2.電阻率 10^-6～2×10^6Ω-cm

3.測試電流 0.1μA.μA.0μA,，100μA，1mA,，10mA,，100mA

4.電流精度 ±0.1%

5.電阻精度 ≤0.3%

6.顯示讀數(shù) 屏液晶顯示：電阻、電阻率,、方阻,、溫度、單位換算,、溫度系數(shù),、電流、電壓,、探針形狀,、探針間距、厚度,、電導率

7.測試方式 雙電測量

8.電源 輸入:AC220V±10%.50Hz功耗：<30W

9.誤差 ≤3%（標準樣片結果）

10.選購功能 選購1.pc軟件,；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭,；選購4.測試平臺,；5.標準電阻.

11.測試探頭 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格;探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針,；鍍金磷銅半球形針

12.標準電阻（選購） 規(guī)格：1mΩ,、10mΩ、100mΩ,、1Ω,、10Ω、1kΩ,、10kΩ,、100kΩ、1MΩ