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當前位置:北京北信科遠儀器有限責任公司>>實驗室設(shè)備>>檢測儀>> JC06-WDI硅片缺陷觀測儀
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產(chǎn)品型號JC06-WDI
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
更新時間:2025-01-31 15:47:54瀏覽次數(shù):707次
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硅片缺陷觀測儀 硅片劃痕崩邊測定儀 硅片位錯層錯檢測儀
型號JC06-WDI
硅片缺陷觀測儀于對硅片的缺陷進行觀察,,效果非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯,、層錯,、劃痕、崩邊等,。
實時對圖像進行分析,、測量和統(tǒng)計,提高傳統(tǒng)光學儀器的使用內(nèi)涵,。配合投影儀和計算機等顯示,、存儲設(shè)備,能更好的觀測和保存研究結(jié)果,;
硅片缺陷觀測儀-產(chǎn)品特點
適用于對硅片的缺陷觀察效果,,非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯,、層錯,、劃痕、崩邊等,;
使硅片缺陷觀察工作簡單化,,準確化,同時極大程度降低此項工作強度,;
實時對圖像進行分析,、測量和統(tǒng)計,提高傳統(tǒng)光學儀器的使用內(nèi)涵,。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設(shè)備,,能更好的觀測和保存研究結(jié)果,;
使用 1/2"CMOS 感光芯片,具有體積小,,技術(shù)*,,像素較高, 成像清晰 ,、線條細膩,、色彩豐富;
傳輸接口為 USB2.0 高速接口,, 軟件模塊化設(shè)計 ;
有效分辨率為 200 萬像素,;
所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng),。
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