常用粒度測(cè)試方法所具有哪些優(yōu)缺點(diǎn)
顆粒的大小稱為顆粒的粒度。顆粒是在一定尺寸范圍內(nèi)具有特定形狀的幾何體,。顆粒不僅指固體顆粒,,還有霧滴、油珠等液體顆粒,。顆粒的概念似乎很簡單,,但由于各種顆粒的形狀復(fù)雜,使得粒度分布的測(cè)試工作比想象的要復(fù)雜得多,。因此要真正了解各種粒度測(cè)試技術(shù)所得出的測(cè)試結(jié)果,,明確顆粒的定義是很重要的。
篩分法: 優(yōu)點(diǎn):簡單,、直觀,、設(shè)備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品,。
缺點(diǎn):不能用于40μm以細(xì)的樣品,;結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
顯微鏡(圖像)法: 優(yōu)點(diǎn):簡單,、直觀,、可進(jìn)行形貌分析,適合分布窄(zui大和zui小粒徑的比值小于10:1)的樣品,。
缺點(diǎn):無法分析分布范圍寬的樣品,,無法分析小于1微米的樣品。
沉降法(包括重力沉降和離心沉降): 優(yōu)點(diǎn):操作簡便,,儀器可以連續(xù)運(yùn)行,,價(jià)格低,,準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好,測(cè)試范圍較大,。
缺點(diǎn):測(cè)試時(shí)間較長,,操作比較復(fù)雜。
庫爾特法: 優(yōu)點(diǎn):操作簡便,,可測(cè)顆??倲?shù),等效概念明確,,速度快,,準(zhǔn)確性好。
缺點(diǎn):適合分布范圍較窄的樣品,。
激光法: 優(yōu)點(diǎn):操作簡便,,測(cè)試速度快,測(cè)試范圍大,,重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,,可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量。
缺點(diǎn):結(jié)果受分布模型影響較大,,儀器造價(jià)較高,。
電鏡: 優(yōu)點(diǎn):適合測(cè)試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高,。
缺點(diǎn):樣品少,、代表性差、儀器價(jià)格昂貴,。
超聲波法: 優(yōu)點(diǎn):可對(duì)高濃度漿料直接測(cè)量,。
缺點(diǎn):分辨率較低。
透氣法: 優(yōu)點(diǎn):儀器價(jià)格低,,不用對(duì)樣品進(jìn)行分散,,可測(cè)磁性材料粉體。
缺點(diǎn):只能得到平均粒度值,,不能測(cè)粒度分布,。