如果我們要測試一個固定輸出20V,，大電流，功率100W的直流電源,，那我們就必須使用一臺電壓,、電流及功率與之相當，甚至更大的電子負載來吸收來自電源的功率,。因為電源是一個恒定電壓輸出20V的恒壓CV源,，測試時電子負載就需要工作在恒流CC模式，并設(shè)定其電流從0A至之間,。當然,，如果是其他類型的恒流CC直流電源，電子負載就需要工作在恒壓CV模式,，還有一些情況需要電子負載工作在CR或者CP模式,。
通常如果被測的直流電源的功率較大，而單個的電子負載沒有足夠的功率,，我們可能會希望將多個電子負載進行串聯(lián)或并聯(lián)來擴展電子負載的功率,。如果是電流不夠，我們可以通過將多臺電子負載并聯(lián)起來,，但如果電壓不夠,，是否也可以使用幾臺電子負載進行串聯(lián)呢？
如果你這樣做,，估計你不但不能夠?qū)崿F(xiàn)你的測試目的,，更可能得到的結(jié)局是損壞電子負載。
接下來我們就一起分析這是為什么,？當然,，我們必須事先了解電子負載是如何工作的，電子負載是通過控制和調(diào)整跨接在其輸入端的FET功率場效應(yīng)管RDS,，似乎將多臺電子負載串聯(lián)應(yīng)該沒有什么大問題,。假如我們將兩臺串聯(lián)的電子負載都設(shè)置為CC模式，而且設(shè)置為*相同的電流值，譬如都設(shè)置為10.00A,。但實際上電子負載不可能是的10.00A,，如果其中一臺實際為9.99A，而另外一臺為10.01A,。這樣一來，電子負載2就不可能達到其設(shè)置值,，因此,，它就不停的減小FET的RDS直到0(短路)，這樣所有的電壓就全部加載到電子負載1上使得它過壓損壞,。
也有人建議兩臺電子負載分別工作于恒流CC模式和恒壓CV模式,，而且這似乎可以實現(xiàn)設(shè)定電壓、電流點的工作狀態(tài),。但是如何讓這兩臺電子負載進入到設(shè)定的CC及CV工作點,？
假設(shè)我們先設(shè)定好電子負載，然后再將負載連接到被測電源,，設(shè)定于CC模式的電子負載因為沒有任何電流,，因此將FET的RDS設(shè)置為0(短路)；而設(shè)定于CV模式的電子負載因為沒有任何電壓,，將FET的RDS設(shè)置為+∞(開路),。所以在電源接入的瞬間，電源上的所有電壓100V都加載到CV模式的負載上,，就可能損壞,。
有一種折中的方法，通過調(diào)節(jié)直流電源的上電電壓斜率,，讓被測的電源慢慢的抬升其輸出電壓(需要被測電源具備這樣的能力),，這樣有可能讓這兩臺串聯(lián)的電子負載進入設(shè)定的工作點。
即使這樣,，如果在工作過程中出現(xiàn)任何異常,，觸發(fā)電子負載的保護，兩臺電子負載分別會進入短路或開路的情況,，依然會導(dǎo)致電源的電壓100V加載到電子負載輸入端的情況,，損壞電子負載。
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