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圖1. 脈沖測試方案簡述
預(yù)先對儲能電容C1充電,，充電電壓為儀器設(shè)定得zui大電壓,，以一極短暫的時間將開關(guān)SW1合上，在SW1合上器件,，由于C1≥C2,，C1快速對C2充電，經(jīng)過一段時間后SW1斷開,。
同時,，該激勵脈沖同時加于一被測線圈Lx，C2,、Rp,、Lx將呈現(xiàn)一自由衰減震蕩，該衰減震蕩呈指數(shù)下降趨勢并調(diào)制以正弦信號,。根據(jù)其與諧振電容C2的衰減振蕩情況來了解線圈內(nèi)部狀態(tài)來判斷該繞線元件品質(zhì)情況： 包含線圈自身的絕緣,，繞線電感量，及并聯(lián)電容量等狀態(tài),。
上圖中：
C1：儲能電容
C2：諧振容量
Cp：線圈兩端等效并聯(lián)電容
R： 能量消耗等效并聯(lián)電阻
Lx：線圈等效電感
圖2 線圈的衰減震蕩曲線
線圈類產(chǎn)品（如變壓器,、電機(jī)等）由于繞線材料、磁性材料,、骨架,、加工工藝等因素的影響會產(chǎn)生線圈層間、匝間及引腳間等絕緣性能的降低,。
線圈的脈沖測試可在不損壞被測件的條件下測試其電氣性能,。這種測試方法能在短暫的瞬間判別線圈的品質(zhì)。測量時將與標(biāo)準(zhǔn)線圈測量時同樣的脈沖通過電容器放電施加于被測線圈,，由于線圈電感量,、雜散電容和Q值的存在，將響應(yīng)一個對應(yīng)于該放電脈沖的電壓衰減波形,，比較該衰減波形的某些特征,，可以檢測線圈匝間和層間短路及圈數(shù)和磁性材料的差異, 如果施加一個高電壓脈沖，根據(jù)出現(xiàn)的電暈或?qū)娱g放電來判斷絕緣不良,。
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