篩分分析方法*簡(jiǎn)單的也是應(yīng)用*早的粒度分析方法是篩分法,。但是,，由于現(xiàn)今的標(biāo)準(zhǔn)篩*細(xì)一般只到400目，因此,，對(duì)于小于10μm的超細(xì)粉體來(lái)說(shuō),，不可能用標(biāo)準(zhǔn)篩進(jìn)行粒度分析和檢測(cè)。雖然新發(fā)展的電沉積篩網(wǎng)可以篩分小至5μm的粉體物料,，但這種篩分技術(shù)由于篩分時(shí)間長(zhǎng)和經(jīng)常發(fā)生堵塞,，很少在分析中使用。篩分分析是利用篩孔大小不同的一套篩子進(jìn)行粒度分級(jí),。對(duì)于粒度小于100mm而大于0.038mm的松散物料,，一般用篩分法測(cè)定其粒度組成和粒度分布。

  篩分分析采用的套篩一般有兩種：一種為非標(biāo)準(zhǔn)篩,，實(shí)驗(yàn)室可以自己制造,，用于篩分粗粒物料。篩孔大小一般為150,，120,，100,，80,，70，50,，25,，15，12,，6,，3，2,，1(mm)等,，根據(jù)需要確定。另一種為標(biāo)準(zhǔn)套篩,，用于篩分細(xì)度物料,，標(biāo)準(zhǔn)套篩是由一套篩孔大小有一定比例的、篩孔寬度和篩絲直徑都是按標(biāo)準(zhǔn)制造的篩子組,。上層篩子的篩孔大,，下層篩子的篩孔小，另外還有一個(gè)上蓋(防止試樣在篩分的過(guò)程中損失)和篩底(用來(lái)直接接取*層篩子的篩下產(chǎn)物),。

  將標(biāo)準(zhǔn)篩按篩孔由大到小,，從上到下排列起來(lái)，各個(gè)篩子所處的層位叫篩序；在疊好的篩序中,，每?jī)蓚€(gè)相鄰的篩孔尺寸之比叫篩比,。有些標(biāo)準(zhǔn)篩有一個(gè)作為基準(zhǔn)的篩子叫基篩，如泰勒標(biāo)準(zhǔn)篩以200目篩子作為基篩