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解說電子商品進行高溫老化實驗的意圖

高溫老化實驗箱適用于航空航天商品、信息電子,、儀器儀表,、電工、電子商品,、各種電子元器件在高溫環(huán)境下查驗其各項性性能指標,。

那么電子商品為何要進行高溫老化實驗，其作用是什么,？（下面小編就客戶實踐中的測驗來回答）

跟著電子技術(shù)的開展,，電子商品的集成化程度越來越高，構(gòu)造越來越細微,，工序不斷增加,，制作技術(shù)越來越雜亂，這樣在制作進程中會產(chǎn)生一些埋伏缺點,。電子商品在出產(chǎn)制作時,因設計不合理,、原材料或技術(shù)辦法方面的原因?qū)е律唐返馁|(zhì)量問題歸納有兩類：

*類是商品的性能參數(shù)不合格，出產(chǎn)的商品不符合運用需求,；

第二類是潛在的缺點,，這類缺點不能用通常的測驗手法發(fā)現(xiàn),，而需要在運用進程中逐漸地被露出，如硅片外表污染,、組織不穩(wěn)定,、焊接空泛、芯片和管殼熱阻匹配不良等等,。

通常這種缺點需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運轉(zhuǎn)一千個小時擺布才干悉數(shù)被激活(露出),。明顯，對每只元器件測驗一千個小時是不現(xiàn)實的,，所以需要對其施加熱應力和偏壓,，例如進行高溫功率應力實驗，來加快這類缺點的提早露出,。也即是給電子商品施加熱的,、電的、機械的或多種綜合的外部應力,，模仿嚴酷工作環(huán)境,，消除加工應力和殘余溶劑等物質(zhì)，使埋伏故障提早呈現(xiàn),，趕快使商品經(jīng)過失效浴盆特性前期階段,，進入高牢靠的穩(wěn)定期?！　?/p>

經(jīng)過高溫老化可以使元器件的缺點,、焊接和安裝等出產(chǎn)進程中存在的危險提早露出，老化后再進行電氣參數(shù)丈量,，挑選除掉失效或變值的元器件,，盡可能把商品的早期失效消除在正常運用之用，從面確保出廠的商品能經(jīng)得起時刻的考驗,。