我們都知道，電子芯片是電子產(chǎn)品的核心,，并且所有的控制和運(yùn)算都集中在芯片中,，那么小點(diǎn)的東西為什么我們還要采用沙塵試驗(yàn)箱來(lái)做防塵測(cè)試呢，則么說(shuō)呢,，一般情況下芯片是包含在產(chǎn)品外殼之中,，很少會(huì)受到沙塵的影香，但也不排除某些例外的狀況,，比如因外殼受損導(dǎo)致的沙塵侵入等,，會(huì)影響到電子芯片的正常運(yùn)行，還有,，就像電腦主機(jī)箱,，外殼都有散熱孔，所以,，我們每次打開(kāi)外殼,，都會(huì)發(fā)現(xiàn)主板上面全是灰塵，這樣也會(huì)影響到正常運(yùn)行。 

    所以通過(guò)沙塵試驗(yàn)箱就能夠模擬各種沙塵侵入的場(chǎng)景,，通過(guò)對(duì)電子芯片進(jìn)行沙塵試驗(yàn),，可以很好的找到電子芯片的設(shè)計(jì)防護(hù)缺陷。

　　電子芯片的防塵測(cè)試主要研究不同顆粒大小的沙塵粒對(duì)電子芯片造成的影響,。試驗(yàn)的目的一是檢測(cè)電子產(chǎn)品的外殼對(duì)內(nèi)部芯片及其他元件的防護(hù)情況,，二是想要了解粉塵侵入對(duì)芯片的影響，以及是否會(huì)發(fā)生短路起火的現(xiàn)象,。通過(guò)沙塵試驗(yàn)箱來(lái)制造不同溫度,、濕度的環(huán)境，并使用不同的沙塵濃度來(lái)對(duì)電子芯片進(jìn)行測(cè)試,。

    在對(duì)電子芯片進(jìn)行防塵測(cè)試時(shí),，一般采用常規(guī)灰塵顆粒大小的粉塵作為試驗(yàn)源。電子芯片要求的防塵等級(jí)一般在IP5或者IP6,，旨在*防護(hù)粉塵的進(jìn)入,，或者粉塵進(jìn)入以后不影響芯片元件的正常運(yùn)行。一般對(duì)于電子芯片的防塵測(cè)試,，都是以IP6zui高等級(jí)的防護(hù)來(lái)進(jìn)行的,，因?yàn)樯硥m堆積過(guò)多，會(huì)造成電子芯片的損害,，所以*絕塵才是的防護(hù)方式,。