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南京環(huán)科試驗(yàn)設(shè)備有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第17年

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電子芯片也用到沙塵試驗(yàn)箱

時(shí)間:2018/1/12閱讀:2446
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     我們都知道,電子芯片是電子產(chǎn)品的核心,,并且所有的控制和運(yùn)算都集中在芯片中,,那么小點(diǎn)的東西為什么我們還要采用沙塵試驗(yàn)箱來(lái)做防塵測(cè)試呢,則么說(shuō)呢,,一般情況下芯片是包含在產(chǎn)品外殼之中,,很少會(huì)受到沙塵的影香,但也不排除某些例外的狀況,,比如因外殼受損導(dǎo)致的沙塵侵入等,,會(huì)影響到電子芯片的正常運(yùn)行,還有,,就像電腦主機(jī)箱,,外殼都有散熱孔,所以,,我們每次打開(kāi)外殼,,都會(huì)發(fā)現(xiàn)主板上面全是灰塵,這樣也會(huì)影響到正常運(yùn)行。 

    所以通過(guò)沙塵試驗(yàn)箱就能夠模擬各種沙塵侵入的場(chǎng)景,,通過(guò)對(duì)電子芯片進(jìn)行沙塵試驗(yàn),,可以很好的找到電子芯片的設(shè)計(jì)防護(hù)缺陷。

 

  電子芯片的防塵測(cè)試主要研究不同顆粒大小的沙塵粒對(duì)電子芯片造成的影響,。試驗(yàn)的目的一是檢測(cè)電子產(chǎn)品的外殼對(duì)內(nèi)部芯片及其他元件的防護(hù)情況,,二是想要了解粉塵侵入對(duì)芯片的影響,以及是否會(huì)發(fā)生短路起火的現(xiàn)象,。通過(guò)沙塵試驗(yàn)箱來(lái)制造不同溫度,、濕度的環(huán)境,并使用不同的沙塵濃度來(lái)對(duì)電子芯片進(jìn)行測(cè)試,。

    在對(duì)電子芯片進(jìn)行防塵測(cè)試時(shí),,一般采用常規(guī)灰塵顆粒大小的粉塵作為試驗(yàn)源。電子芯片要求的防塵等級(jí)一般在IP5或者IP6,,旨在*防護(hù)粉塵的進(jìn)入,,或者粉塵進(jìn)入以后不影響芯片元件的正常運(yùn)行。一般對(duì)于電子芯片的防塵測(cè)試,,都是以IP6zui高等級(jí)的防護(hù)來(lái)進(jìn)行的,,因?yàn)樯硥m堆積過(guò)多,會(huì)造成電子芯片的損害,,所以*絕塵才是的防護(hù)方式,。

 

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