詳細介紹
e+h雷達物位計發(fā)射功率很低的極短的微波通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收,。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號,。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量,。即使存在虛假反射的時候,的微處理技術和軟件也可以準確地分析出物位回波,。通過輸入容器尺寸,,可以將上空距離值轉(zhuǎn)換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調(diào)試,。在固體測量中的應用可以使用K-頻段的高頻傳感器,。由于信號的聚焦效果非常好,料倉內(nèi)的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量,。
恩格斯豪斯雷達物位計FMR240系列連續(xù)的非接觸式物位測量儀表,。
經(jīng)濟的4 - 20 mA 兩線制技術,適用于危險區(qū)域,。
Micropilot M FMR240系可用于對液體,、漿料、淤泥和固了進行連續(xù)的非接觸式物位測量,。測量不受介質(zhì)改變,、溫度變化,、氣層或蒸汽的影響。FMR240具有小尺寸的40mm(1½") 喇叭天線,,非常適合于小型容器中的物位測量,,其測量精度可達±3 mm (±0.12 in).
恩格斯豪斯雷達物位計FMR240系列優(yōu)點
經(jīng)濟的兩線制技術:
是差壓、浮子和浮筒式物位計的可靠替代品,。
采用兩線制技術,,有效的降低布線成本,且易于實現(xiàn)與現(xiàn)有系統(tǒng)的集成
非接觸式測量
測量幾乎不受介質(zhì)特性影響.
通過數(shù)文引導式菜單輕松進行現(xiàn)場操作.
通過Endress+Hauser的操作軟件便于進行儀表調(diào)試,、文件編制和故障診斷
頻率范圍采用C波段
支持HART 或PROFIBUS PA以及FF基金會現(xiàn)場總線協(xié)議
用于物位監(jiān)測(MIN, MAX) ,,符合 IEC 61508/IEC 61511-1標準的要求,通過了SIL 2認證
恩格斯豪斯雷達物位計測量條件:
注意事項l 測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算,,但在特殊情況下,,若罐低為凹型或錐形,當物位低于此點時無法進行測量,。
l 若介質(zhì)為低介電常數(shù)當其處于低液位時,,罐低可見,此時為保證測量精度,,建議將零點定在低高度為C 的位置,。
l 理論上測量達到天線*的位置是可能的,但是考慮到腐蝕及粘附的影響,,測量范圍的終值應距離天線的*至少100mm,。
l 對于過溢保護,可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上,。
l zui小測量范圍與天線有關,。
l 隨濃度不同,泡沫既可以吸收微波,,又可以將其反射,,但在一定的條件下是可以進行測量的。
E+H導波雷達物位計的微波脈沖沿著一根纜,、棒或包含一根棒的同軸套管運行,,接觸到被測介質(zhì)后,微波脈沖被反射回來,,并被電子部件接收,,并分析計算其運行時間。微處理器識別物位回波,,分析計算后將它轉(zhuǎn)換成物位信號給出,。由于測量原理簡單,可以不帶料調(diào)整,從而節(jié)省了大量調(diào)試費用,。測量纜或棒可以截短,,使之更加適應現(xiàn)場的應用。對于蒸汽不敏感,,即使在煙霧,、噪音、蒸汽很強烈的情況下,,測量精度也不受到影響,。不受介質(zhì)特性變化的影響,被測介質(zhì)的密度變化或介電常數(shù)的變化不會影響測量精度,。粘附:沒有問題,在測量探頭或容器壁上粘附介質(zhì)不會影響測量結果,。容器內(nèi)安裝物如果采用同軸套管式的測量*不受容器內(nèi)安裝物的影響,,不需要特殊調(diào)試??梢蕴峁┎煌问降奶筋^用于不同應用:纜式,,用于測量液體介質(zhì)或重量大的固體介質(zhì),量程可達60米,;棒式,,用于測量液體介質(zhì)或重量輕的固體介質(zhì),量程可達6米,;同軸套管,,用于測量低黏度的介質(zhì),不受過程條件的影響,,量程可達6米,。
e+h雷達物位計采用微波脈沖的測量方法,并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常,,波束能量低,,可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi),,對液體,、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量。適用于粉塵,、溫度,、壓力變化大,有惰性氣體及蒸汽存在的場合,。雷達物位計對人體及環(huán)境均無傷害,,還具有不受介質(zhì)比重的影響,不受介電常數(shù)變化的影響,,不需要現(xiàn)場校調(diào)等優(yōu)點,,不論是對工業(yè)需要,,還是對顧客經(jīng)濟實惠的考慮,都是不錯的選擇,。