E+H雷達物位計FMR230系列應(yīng)用領(lǐng)域
Micropilot M可用于對液體,、漿料,、淤泥和固料進行連續(xù)的非接觸式物位測量,。測量不受介質(zhì)改變,、溫度變化,、氣層或蒸汽的影響。
FMR230特別適合用于緩沖罐和過程罐的物位測量.

E+H雷達物位計FMR230系列應(yīng)用領(lǐng)域
Micropilot M可用于對液體,、漿料,、淤泥和固料進行連續(xù)的非接觸式物位測量。測量不受介質(zhì)改變,、溫度變化,、氣層或蒸汽的影響。
FMR230特別適合用于緩沖罐和過程罐的物位測量.

E+H雷達物位計FMR230系列產(chǎn)品描述
連續(xù)的非接觸式物位測量儀表,。
經(jīng)濟的4 - 20 mA 兩線制技術(shù),，適用于危險區(qū)域。

E+H雷達物位計工作原理：微波物位計工作方式類似雷達：向被測目標發(fā)射微波,，由目標反射的回波返回發(fā)射器被接收,，與發(fā)射波進行比較，確定目標存在并計算出發(fā)射器到目標的距離,。
E+H雷達物位計FMR230系列優(yōu)點：
經(jīng)濟的兩線制技術(shù):
是差壓,、浮子和浮筒式物位計的可靠替代品。
采用兩線制技術(shù),，有效的降低布線成本,，且易于實現(xiàn)與現(xiàn)有系統(tǒng)的集成
非接觸式測量
測量幾乎不受介質(zhì)特性影響。
通過數(shù)文引導(dǎo)式菜單輕松進行現(xiàn)場操作.
通過Endress+Hauser的操作軟件便于進行儀表調(diào)試,、文件編制和故障診斷
頻率范圍采用C波段
支持HART 或PROFIBUS PA以及FF基金會現(xiàn)場總線協(xié)議
耐高溫:
適用于過程溫度高達+200 °C (392 °F)的測量場合
采用高溫型天線時過程溫度可達 400 °C (752 °F)
用于物位監(jiān)測(MIN, MAX) ,，符合 IEC 61508/IEC 61511-1標準的要求，通過了SIL 2認證
選項: 氣密性電纜入口,，提高過程的安全性
恩格斯豪斯雷達物位計發(fā)射功率很低的極短的微波通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收,。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號,。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量,。即使存在虛假反射的時候，的微處理技術(shù)和軟件也可以準確地分析出物位回波,。通過輸入容器尺寸,，可以將上空距離值轉(zhuǎn)換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調(diào)試,。在固體測量中的應(yīng)用可以使用K-頻段的高頻傳感器,。由于信號的聚焦效果非常好,，料倉內(nèi)的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。