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當(dāng)前位置:> 供求商機> MNRLE-ME03-剪切干涉測量實驗
實驗簡介:
剪切干涉法因其結(jié)構(gòu)簡單,,搭建方便,已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于實際中光學(xué)系統(tǒng)波像差的檢測,。RealLight™應(yīng)用數(shù)字相機采集剪切干涉條紋,,通過條紋分析可以定量測量出初級球差及軸向離焦量等。本實驗適用于高校光電專業(yè)本科生《工程光學(xué)》,、《光電檢測》等相關(guān)課程配套專業(yè)實驗,。
實驗內(nèi)容:
1、剪切干涉測試光路搭建及調(diào)整實驗,;
2,、初級球差典型剪切干涉圖樣觀測實驗;
3,、測量用相機系統(tǒng)標定實驗,;
4、球差鏡頭初級像差系數(shù)測量實驗,;
5,、測試光路軸向離焦量測量實驗。
主要設(shè)備參數(shù):
1. 光源組件:
氦氖激光器:P>1.5mW,,TEM00,全保護安全高壓插頭,,*關(guān)設(shè)計(安全鑰匙,、按鍵)符合CE標準。
2. 測試組件:
測試鏡頭:Φ40mm,孔徑光闌Φ2~29mm,。
3. 機械組件:
精密光學(xué)導(dǎo)軌:L×W=1200mm×90mm,,配套滑塊、一維移動滑塊,、調(diào)節(jié)支座,、支桿;高精度調(diào)節(jié)鏡架穩(wěn)定性,;
一維精密移動臺:行程13mm,,精度0.005mm,直線性<5μm ,。
4. 光學(xué)組件:
成像鏡頭:f=16mm ,,F1.4;
光學(xué)平晶:Φ50mm,,Tc=20mm ,,平行度<2" ,面型λ/10,,光潔度IV級,。
5. 探測器組件:
數(shù)字CMOS相機:130萬像素,像素大小5.2μm×5.2μm,,USB2.0,,A/D:10bit。
6. 空間濾波器組件:
40×顯微物鏡,,15μm針孔,,高精度三維調(diào)節(jié)機構(gòu),微調(diào)精度0.002mm,。
7. 軟件組件:
圖像采集與保存模塊,,相機標定模塊,初級像差測試模塊,,USB2.0軟件鎖,。
8. 講義及快速安裝指南。
選配設(shè)備參數(shù):
1,、儀器設(shè)備防塵罩:
外形尺寸:1400mm×360mm×300mm,;
觀察窗材料:亞克力透明擋板。
2,、計算機(基本配置),。
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