高頻紅外碳硫分析儀的原理及性能結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計
整機(jī)采用模塊化設(shè)計技術(shù),電源系統(tǒng)由兩個固態(tài)電源模塊組成,,防塵,、簡潔可靠;連線采用扁平線接插件代替插槽形式,,提高了整個電路的可靠性及線路之間的連接可靠性,,結(jié)構(gòu)性強(qiáng)。
氣路系統(tǒng)
采用氣動原理,,設(shè)計了高壓排灰,、自動清掃爐頭,并增加爐頭加熱裝置,,有效地減少粉塵對硫元素分析的影響,。氣路部件包括電磁閥,、氣缸、氣路管,、氣路接頭全部采用意大利CAMOZZ1氣動有限公司進(jìn)口元件,,電磁閥壽命達(dá)百萬次以上,氣缸采用無油潤滑技術(shù),,適用于惡劣現(xiàn)場環(huán)境,,從根本上解決了國內(nèi)產(chǎn)品常見的氣路系統(tǒng)的可靠性和密封性難題。
高頻爐的設(shè)計
1,、高頻爐輸出功率為2.5千瓦,,選用風(fēng)冷陶瓷功率管并使其工作在降額使用狀態(tài),提高了功率輸出的穩(wěn)定性及元件壽命,。
2,、主振電容采用額定電流達(dá)一百安培的真空陶瓷電容,具有極低的介質(zhì)損耗,、優(yōu)良的穩(wěn)定性,,有效提高了可靠性及功率輸出的穩(wěn)定性。
3,、高頻爐所有金屬聯(lián)接件采用銅表面鍍銀加抗氧化導(dǎo)電膜技術(shù),;采用高Q值鐵氧體芯線圈;設(shè)有冷卻風(fēng)道,,加強(qiáng)冷卻風(fēng)扇功率,提高了功率元件的熱穩(wěn)定性,。
通過以上設(shè)計,,保證了樣品中碳硫元素的*釋放。
紅外檢測系統(tǒng)
核心部件紅外檢測池選用,、長壽命的貴金屬微型紅外光源及金屬反射鏡,;調(diào)制系統(tǒng)采用單片機(jī)控制的高精度步進(jìn)電機(jī),達(dá)到了調(diào)制頻率的長期穩(wěn)定,,再結(jié)合處于先進(jìn)水平的紅外熱釋電固體光錐型傳感器,、窄帶濾光片、檢測器等中科院上海技術(shù)物理研究所專有元件,、高精度A/D采樣卡,,使整機(jī)有*的檢測靈敏度,可有效檢測ppm級的碳硫含量,。
檢測范圍及精度
在氣路設(shè)計中采用高壓排灰,、自動清掃、高精度流量控制及壓力補償?shù)纫幌盗杏行У拇胧?,結(jié)合德凱公司*的全量程定標(biāo)技術(shù),、重量線性補償技術(shù),,使儀器的擁有寬廣的檢測范圍。檢測上限碳可達(dá)100%,、硫可達(dá)100%,,同時選用瑞士梅特勒-托利多萬分之一電子天平,使分析精度達(dá)到先進(jìn)水平,,碳分析精度≤0.4ppm或RSD≤0.4%,,硫分析精度≤0.5ppm或RSD≤1.2%。
應(yīng)用軟件
在WINDOWS2000操作系統(tǒng)上中文應(yīng)用軟件,,PC接口采用了USB數(shù)據(jù)交換技術(shù),,構(gòu)筑了一個上下位機(jī)通訊的系統(tǒng)工作模式,多窗口,、多任務(wù)操作,,在數(shù)據(jù)庫的管理上,實現(xiàn)了數(shù)據(jù)的自動存儲,、擁有功能強(qiáng)大,、多重過濾數(shù)據(jù)庫檢索引擎,通過網(wǎng)絡(luò)實現(xiàn)數(shù)據(jù)庫遠(yuǎn)程監(jiān)控,,工作曲線的同步顯示,、存儲、放大及多重曲線的多層次比較,。
線性化定標(biāo)
高頻紅外碳硫分析儀是通過檢測CO2及SO2氣體對紅外輻射吸收量來分析物質(zhì)中的碳硫元素含量,;線性化定標(biāo)是儀器數(shù)據(jù)中關(guān)鍵技術(shù),由于朗伯比爾定律是符合指數(shù)規(guī)律,,又因紅外濾光片具有一定帶寬,,氣體吸收系數(shù)不是常數(shù),因而要獲得積分面積線性化定標(biāo)是十分困難,。我們在定標(biāo)模式,、計算法、定標(biāo)軟件的設(shè)計上均有重大突破并優(yōu)于國外的儀器,,在全量程范圍內(nèi)獲得很好線性度,;國內(nèi)同行幾乎采用多氣室的分段定標(biāo),因而存在很大的弊病及使用上局限性,。
高頻爐程序升溫
試樣的燃燒溫度,、高碳高硫的釋放速率對分析的精度都有一定的影響。目前市場上的高頻爐都不能很好地解決這些問題,。我公司生產(chǎn)的高頻爐具有程序升溫功能,,具有32條針對不同樣品的升溫曲線,供隨時調(diào)用,。比如高碳升溫曲線,,相對于常規(guī)的不可控功率,,明顯的減少了粉塵,同時控制了碳的釋放速度,,從而顯著地提高了分析精度,;超低含量的升溫曲線,可以消除被測樣品表面碳的空白影響,,同時通過適當(dāng)?shù)墓β士刂?,增加被測樣品的稱樣量,從而減少助熔劑空白的影響,;通過對被測樣品燃燒溫度的控制,,減少熔融樣品對坩堝的腐蝕,從而消除了由于坩堝內(nèi)部雜質(zhì)釋放所引入的空白,。
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