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rohs熒光檢測儀 

S6000產(chǎn)品介紹

² S6000配置性能Si-PIN半導(dǎo)體探測器，達(dá)到性能的分析效果

配置性能進(jìn)口Si-PIN探測器,，與佳的垂直照射的光路系統(tǒng)和多組復(fù)合濾光片的組合,，實(shí)現(xiàn)了廣范圍的測試需求，靈敏度的分析限,。選配的SDD探測器能夠?qū)崿F(xiàn)從Na元素更低能量范圍的測試要求,。新型的Si-PIN探測器能量分辨率出色，可達(dá)145ev,，分析元素時減少了譜峰重疊帶來的低能峰的物理干擾影響,，提升了分析結(jié)果的準(zhǔn)確可靠性；具有速通道的脈沖分析器能夠接收2萬以上的數(shù)率的脈沖信息,，增強(qiáng)了測試結(jié)果的重復(fù)可靠性,；電子制冷無需擔(dān)憂操作不慎帶來的損害。

² 體驗(yàn)式的操作界面和簡便的導(dǎo)航菜單,，

從新視覺方面的思考設(shè)計(jì)的體驗(yàn)式的操作界面,，從初級測試人員,，到專業(yè)人員或?qū)悠焚|(zhì)管理者，都能得心應(yīng)手的便捷操作,，帶來一種體驗(yàn)式的工作界面,，更快捷，更簡化,。多種測試結(jié)果的輸出格式,，供應(yīng)商物料的篩選統(tǒng)計(jì)，可視化的譜圖縮放查看,，明了的譜峰對比功能,，常規(guī)的數(shù)據(jù)備份和的導(dǎo)入等等功能都可以滿足在質(zhì)量和品質(zhì)部門對測試結(jié)果的判定便捷性。

 EDX-S6000其他技術(shù)參數(shù)

3.1. 分析元素：探測器可分析Na~U之間元素,。

3.2. 分析時間：120s(支持自定義設(shè)置),。

3.3. 配置RoHS檢測分析模型，無鹵分析模型,。

3.4. 軟件界面簡潔,，模塊化設(shè)計(jì)，功能清晰,，易操作,。

3.5. 軟件擁有數(shù)據(jù)一鍵備份，一鍵還原功能,，數(shù)據(jù)導(dǎo)入導(dǎo)出記錄等,，保護(hù)用戶數(shù)據(jù)安全。

3.6. 分析方法：綜合應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法,、基本參數(shù)法,。

3.7. 多種數(shù)據(jù)算法，根據(jù)不同基體樣品,，配備不同算法,，提儀器測試度。

3.8. 譜圖疊加對比功能可以很方便的進(jìn)行歷史譜圖與現(xiàn)測譜圖的對比,，從而發(fā)現(xiàn)來料的變化趨勢,，建立更的風(fēng)險(xiǎn)防范能力。

 產(chǎn)品增值服務(wù)

4.1. 不同權(quán)限用戶登錄管理操作

可以選擇管理員和操作員兩種權(quán)限用戶登錄,，系統(tǒng)自動記錄不同人員所測試過的樣品情況,，以便追溯。

4.2. 樣品測試結(jié)果跟蹤控件

可以對測試的樣品進(jìn)行分類選擇,，例如供應(yīng)商,，種類，拆分號等信息,，結(jié)果統(tǒng)計(jì)時選擇不同的信息可以歸類統(tǒng)計(jì),，以便跟蹤同一供應(yīng)商或者同一物料的長期狀態(tài),。

4.3. 選配增加鍍層厚度檢測，確認(rèn)供應(yīng)商提交的鍍層產(chǎn)品質(zhì)量合格,。

 重要部件配置

5.1. 采用Si-Pin分辨率達(dá)145ev進(jìn)口探測器,。可以選配126ev分辨率的SDD探測器,。

5.2. 50kV1mA的激發(fā)電源,，設(shè)計(jì)連續(xù)工作壽命5年以上。

5.3. 50KV1mA的X射線發(fā)生器,，鈹窗厚度200um，設(shè)計(jì)連續(xù)工作壽命15000小時以上,。

5.4. 濾光系統(tǒng)為復(fù)合的5種濾光片組合,，系統(tǒng)自動切換。

5.5. 準(zhǔn)直器為3種規(guī)格配置：1mm,，3mm,，5mm。

 儀器其他規(guī)格參數(shù)

6.1. S6000改觀尺寸：長寬550×330×430mm,；

6.2. 樣品腔尺寸：長寬435×245×145mm,；

6.3. S6000凈重38kg；環(huán)境溫度10-25℃,；

6.4. 額定功率280W,；

6.5. 樣品支撐薄膜厚度6um；

6.6. 電腦控制連接方式USB

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