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貨物所在地:廣東深圳市
更新時(shí)間:2024-11-27 10:46:34
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鹵元素檢測(cè)儀
S6000產(chǎn)品介紹
² S6000配置性能Si-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器,,達(dá)到性能的分析效果
配置性能進(jìn)口Si-PIN探測(cè)器,,與佳的垂直照射的光路系統(tǒng)和多組復(fù)合濾光片的組合,,實(shí)現(xiàn)了廣范圍的測(cè)試需求,靈敏度的分析限,。選配的SDD探測(cè)器能夠?qū)崿F(xiàn)從Na元素更低能量范圍的測(cè)試要求,。新型的Si-PIN探測(cè)器能量分辨率出色,可達(dá)145ev,,分析元素時(shí)減少了譜峰重疊帶來的低能峰的物理干擾影響,,提升了分析結(jié)果的準(zhǔn)確可靠性;具有速通道的脈沖分析器能夠接收2萬以上的數(shù)率的脈沖信息,,增強(qiáng)了測(cè)試結(jié)果的重復(fù)可靠性,;電子制冷無需擔(dān)憂操作不慎帶來的損害。
² 體驗(yàn)式的操作界面和簡(jiǎn)便的導(dǎo)航菜單,,
從新視覺方面的思考設(shè)計(jì)的體驗(yàn)式的操作界面,,從初級(jí)測(cè)試人員,到專業(yè)人員或?qū)悠焚|(zhì)管理者,,都能得心應(yīng)手的便捷操作,,帶來一種體驗(yàn)式的工作界面,更快捷,,更簡(jiǎn)化,。多種測(cè)試結(jié)果的輸出格式,供應(yīng)商物料的篩選統(tǒng)計(jì),,可視化的譜圖縮放查看,,明了的譜峰對(duì)比功能,常規(guī)的數(shù)據(jù)備份和的導(dǎo)入等等功能都可以滿足在質(zhì)量和品質(zhì)部門對(duì)測(cè)試結(jié)果的判定便捷性,。
EDX-S6000其他技術(shù)參數(shù)
3.1. 分析元素:探測(cè)器可分析Na~U之間元素,。
3.2. 分析時(shí)間:120s(支持自定義設(shè)置)。
3.3. 配置RoHS檢測(cè)分析模型,,無鹵分析模型。
3.4. 軟件界面簡(jiǎn)潔,,模塊化設(shè)計(jì),,功能清晰,易操作,。
3.5. 軟件擁有數(shù)據(jù)一鍵備份,,一鍵還原功能,數(shù)據(jù)導(dǎo)入導(dǎo)出記錄等,,保護(hù)用戶數(shù)據(jù)安全,。
3.6. 分析方法:綜合應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法,。
3.7. 多種數(shù)據(jù)算法,,根據(jù)不同基體樣品,配備不同算法,提儀器測(cè)試度,。
3.8. 譜圖疊加對(duì)比功能可以很方便的進(jìn)行歷史譜圖與現(xiàn)測(cè)譜圖的對(duì)比,,從而發(fā)現(xiàn)來料的變化趨勢(shì),建立更的風(fēng)險(xiǎn)防范能力,。
產(chǎn)品增值服務(wù)
4.1. 不同權(quán)限用戶登錄管理操作
可以選擇管理員和操作員兩種權(quán)限用戶登錄,,系統(tǒng)自動(dòng)記錄不同人員所測(cè)試過的樣品情況,以便追溯,。
4.2. 樣品測(cè)試結(jié)果跟蹤控件
可以對(duì)測(cè)試的樣品進(jìn)行分類選擇,,例如供應(yīng)商,種類,,拆分號(hào)等信息,,結(jié)果統(tǒng)計(jì)時(shí)選擇不同的信息可以歸類統(tǒng)計(jì),以便跟蹤同一供應(yīng)商或者同一物料的長(zhǎng)期狀態(tài),。
4.3. 選配增加鍍層厚度檢測(cè),,確認(rèn)供應(yīng)商提交的鍍層產(chǎn)品質(zhì)量合格。
重要部件配置
5.1. 采用Si-Pin分辨率達(dá)145ev進(jìn)口探測(cè)器,??梢赃x配126ev分辨率的SDD探測(cè)器。
5.2. 50kV1mA的激發(fā)電源,,設(shè)計(jì)連續(xù)工作壽命5年以上,。
5.3. 50KV1mA的X射線發(fā)生器,鈹窗厚度200um,,設(shè)計(jì)連續(xù)工作壽命15000小時(shí)以上,。
5.4. 濾光系統(tǒng)為復(fù)合的5種濾光片組合,系統(tǒng)自動(dòng)切換,。
5.5. 準(zhǔn)直器為3種規(guī)格配置:1mm,,3mm,5mm,。
儀器其他規(guī)格參數(shù)
6.1. S6000改觀尺寸:長(zhǎng)寬550×330×430mm,;
6.2. 樣品腔尺寸:長(zhǎng)寬435×245×145mm;
6.3. S6000凈重38kg,;環(huán)境溫度10-25℃,;
6.4. 額定功率280W;
6.5. 樣品支撐薄膜厚度6um,;
6.6. 電腦控制連接方
鹵元素檢測(cè)儀
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