產品信息： 本儀器專門針對貴金屬測試，采用新的科技分析X熒光光譜,，對貴金屬成份進行無損快速分析,，該儀器采用新Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV,，運用于的基本參數法,，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素,，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內水平,。 應用領域： 貴金屬（Pt、Au,、Pd,、Ag、Rh等）相關制品的生產,、銷售,、回收的檢測,； 用于各種金屬合金（銅合金、鐵合金,、不銹鋼,、錫合金等）的成份分析。 功能： 開放式工作曲線,，可以根據需求建立新工作區(qū) 經驗系數法和基本參數法相結合 測試樣品：各種不同形狀樣品,，滿足大樣品測試需求 安全性能：迷宮式設計,，*達到輻射安全指標 測試操作簡單,，實現傻瓜式操作模式 報告模板多樣化，適應各種測試需求 器參數： 分析軟件：Ux-6280貴金屬分析軟件 分析元素種類：26種元素可同時分析 分析方法：基本參數法（定量） 管流：50uA—1000uA 功率：350W 外形尺寸：640（W）*474（D）*412（H）（mm3） 樣品倉尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm3） 重量：約48Kg 工作環(huán)境：15－30°C,，相對濕度≤85%（不結露） 工作電源：AC220－240V,，50/60Hz，350W 標準配置： 探測器： 2級半導體電制冷,；探測器晶體厚度500μm,；探測靈敏面積6mm2；Be窗厚度為1mil 壓電源：壓范圍0-50kV,，功率50W,，8h穩(wěn)定性0.05% X射線管：薄鈹窗側窗X射線管（Mo靶、Rh靶） 清攝像頭裝置 定位裝置 自動開蓋裝置 |
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