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貨物所在地:廣東深圳市
更新時(shí)間:2025-01-10 10:06:40
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XRF鍍層厚度檢測(cè)儀
ACZET系列X射線熒光分析測(cè)厚儀特點(diǎn):
ACZET系列X射線鍍層測(cè)厚儀是基于X射線熒光技術(shù),,該技術(shù)已經(jīng)被證實(shí)并且得到廣泛應(yīng)用,可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作,、快速和無損的分析,。它能分析固體和液體,元素范圍包括從元素周期表中的22到U92,,并且具有不同大小的樣品艙,。
ACZET系列鍍層測(cè)厚儀的優(yōu)勢(shì)
操作軟件
可選軟件模塊
選配置
Cube系列技術(shù)特點(diǎn)
一、功能
1. 采用X射線熒光光譜法無損測(cè)量金屬鍍層,、覆蓋層厚度,,測(cè)量方法滿足GB/T 16921-2005標(biāo)準(zhǔn)(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987),。
二,、特點(diǎn)
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
1 | Cube X射線鍍層測(cè)厚儀 |
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?XRF鍍層厚度檢測(cè)儀
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