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XRF光譜檢測分析測試化驗測定測量電鍍層儀

發(fā)展歷史

1982年Röntgenanalytik Vertriebs GmbH德國宏德公司成立

1986年ACZET PVT LTD安捷特儀器公司成立

1990年發(fā)布XRF儀器

1994年發(fā)布XMasteR軟件

1997年發(fā)布Eagle系列X熒光產(chǎn)品

1998年發(fā)布COMPACT及MAXXI系列產(chǎn)品

2004年發(fā)布COMPACT5及MAXXI5系列產(chǎn)品

2008年發(fā)布COMPACT Eco及MAXXI Eco系列產(chǎn)品（適用于中大型空間樣品）

2011年開始設計新的XRF儀器Cube及Cube-X（適用于緊湊型空間和PCB行業(yè)）

2013年發(fā)布Stark系列產(chǎn)品（由下往上照，適用于首飾,、水暖,、汽配行業(yè)）

2014 年加入安捷特集團

2016年發(fā)布AXIOM系列產(chǎn)品（儀器，多準直器,，毛細分析,，XY自動對焦等）

2017年安捷特成立中國辦事處，負責儀器報關,、備件庫存,、安裝維修

產(chǎn)品介紹

ACZET系列 X射線熒光分析測厚儀能提供：鍍層厚度和元素分析功能,不但性能*,而且*。分析鍍層厚度和元素成份同時進行,，只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果,，多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室,，適合不同大小的樣品,，功能實用，準確性,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的選,。

    Cube系列可測量各類金屬,、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量,。

ACZET系列X射線熒光分析測厚儀特點：

ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術,，該技術已經(jīng)被證實并且得到廣泛應用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作,、快速和無損的分析,。它能分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的22到U92,，并且具有不同大小的樣品艙,。

ACZET系列鍍層測厚儀的優(yōu)勢

• 操作簡單，只需要很少的培訓就可以操作
• 檢測速度快,，無損檢測只需幾秒鐘
• 可測試單層及多層鍍層的厚度
• 可以測試電鍍液中金屬離子含量
• 對測試樣品*無損
• 市場上性價比
• 自動化批量檢測：可選配XYZ全自動工作臺
• 應用行業(yè)廣泛：電子,，珠寶，金屬加工等等

操作軟件

X-Master是一款具備龐大應用功能的軟件,，并且我們更多新的應用正不斷地加入更多新的應用,。

可選軟件模塊

• µ-Master 用于鍍層厚度測量
• Element-Master 用于材料分析
• Report-Master 用于生成報告文件
• Data-Master 用于數(shù)據(jù)庫管理
• %-Master 用于材料分析（珠寶）
• Liquid-Master 用于電鍍液分析

選配置

• 自動的多準直器系統(tǒng)
• 軟件控制XYZ軸實現(xiàn)自動化批量檢測

Cube系列技術特點

一、功能

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層,、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000,、 ASTM B568和DIN50987）,。

• 鍍層元素范圍：鈦～鈾,，包含常見的金、鎳,、銅,、銀、錫,、鋅,、鉻、鈀等,。
• 鍍層層數(shù)：多至5層,。
• 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米,。
• 測量時間：通常35秒-180秒,。
• 樣品尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x)。
• 測量誤差：通常小于5%,，視樣品具體情況而定,。
• 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定,。
• 同時定量測量8個元素,。
• 定性鑒定材料達20個元素。
• 自動測量功能：編程測量,，自定測量,；修正測量功能：底材修正，已知樣品修正
  定性分析功能：光譜表示,，光譜比較,；定量分析功能：合金成份分析
  數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能：x管理圖，x-R管理圖,，直方柱圖,。

二、特點

• 采用基本參數(shù)法校準,，可在無標樣情況下生成校準曲線以完成測量,。
• X射線采用從上至下的照射方式，即使是表面低不一的樣品也可以正確測量,。反之,，如果是從下至上的照射方式，遇到表面凹凸的樣品,，無法調(diào)整Z軸距離,，導致測量光程的變化，引起測量的誤差,。
• 具有多種測試功能,，僅需要一臺儀器,，即可解決多種測試
• 相比其他分析設備，投入成本低
• 儀器操作簡單,，便可獲得很好的準確性和重現(xiàn)性
• 綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析
  鍍層分析:可分析四層以上厚度,的FP分析軟件,真正做到無標準片亦能進行準確測量(需要配合純材料),為您大大節(jié)省購買標準片的成本.*超越其他品牌的所謂FP軟件.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

XRF光譜檢測分析測試化驗測定測量電鍍層儀