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貨物所在地：廣東深圳市
所在地： 深圳
更新時間：2025-04-29 15:25:39
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金屬含量檢測機器
儀器介紹：
手持式儀器資料：
合金分析儀技術(shù)規(guī)格
項目 | （標準型）合金分析儀Innov-X Delta |
尺寸與重量 | 外形尺寸：245x250x88mm,；重量<1.5KG |
環(huán)境要求 | 環(huán)境濕度0~95%；環(huán)境工作溫度-20℃ ~50℃,；亮黃 黑色,、銀白色相間 |
激發(fā)源 | 大功率微型直板電子X射線管，內(nèi)置15kV~40kV多段可選擇的電壓,；無壓電纜,、無射頻噪聲、更好的X射線屏蔽,、更好的散熱,。 |
射線管靶材 | Au、Ag靶 |
X射線探測器 | 標準型SDD硅漂移探測器 |
冷卻系統(tǒng) | 采用了Peltier恒溫冷卻系統(tǒng),，控測器在-35℃下工作,，保證儀器的檢測精度，和不受外界溫度的影響 |
濾波器 | 八個濾光片可自動切換 |
電壓,、電流 | 電壓15~40kv,電流200ua |
光譜束 | 兩個光束段,，不同的元素采用不同的電壓與電流，產(chǎn)生好的分析效果 |
主機供電系統(tǒng) | 2個鋰電池,110v/220通用充電器, 充電器適配器,，智能接駁座 |
智能接駁座 | 可對額外電池充電,、儀器內(nèi)置電池同時充電并顯示充電進度，接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù),，可讓儀器即時標準化,，儀器隨時待命狀態(tài) |
開機換電 | 儀器即使在開機狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機，時間可達30秒 |
標準化 | 儀器開機并不需要標準化,，可以直接測試,，標準化僅僅是可選項 |
平衡性 | 儀器具有很好的平衡性，在測試時能立于工作臺上,，無需手扶,，一鍵式按鈕設(shè)計，即使長時間操作也無疲勞感 |
散熱性 | 超過1/3的機體采用鋁合金外殼設(shè)計,，儀器頂部有的槽式散熱裝置,，整個體系使散熱非常有效，延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定，從而故障率極低 |
顯示器 | 整機一體化設(shè)計,，工業(yè)級分辨率TFT QVGA卡西歐 BlanView® 觸摸顯示彩屏,，帶LED背光；像素240×320 |
顯示器固定方式 | 一體機設(shè)計,整機連體構(gòu)造,，PDA不可拆卸,可防塵,防霧,防水,故障低 |
數(shù)據(jù)顯示 | 百分比（%）顯示元素含量,，元素顯示順序可按能量、濃度值,、用戶自定義等方式排序,可統(tǒng)計多次測試的平均值,可接臺式電腦顯示;儀器在測試過程中同步動態(tài)顯示化學(xué)成份 |
數(shù)據(jù)存儲 | ROM128M,、RAM128M、2G SD卡,，可存儲205000組數(shù)據(jù)與光譜 |
數(shù)據(jù)傳輸 | USB電纜,、無線藍牙進行數(shù)據(jù)傳輸，文件可采用TXT,EXCEL格式輸出,。 |
處理器CPU | 532MHz CPU ,、Freescal，ARM1136-MX31處理器,，浮點運算方式,，速度大幅提 |
系統(tǒng)CPU外設(shè) | 采用USB總線, I2C,GPIO, 藍牙, 加速器，實時的時鐘芯片,，微型SD 存儲卡 (可存儲2GB 數(shù)據(jù)),，GPIO 條帶連接到扳機和PSM |
操作系統(tǒng) | 用戶化 windows CE 6.0系統(tǒng) |
Alloy Beam1模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素 |
Alloy Beam2模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
合金建模方式 | 基本參數(shù)法，儀器在分析合金前不需要預(yù)先知道合金種類,，實現(xiàn)全自動分析 |
合金種類 | 鐵合金系列,、鎳基合金系列、鈷基合金系列,、鈦基合金系列,、銅基系列、6. 溫合金,、鉬鎢合金,、鋁合金、混雜合金系列 |
合號 | 內(nèi)置合號351種,，用戶可自定義300種合號，能同時分析的合金651種,，能分析的合金達萬種,， |
小樣品測試 | 不規(guī)則或小型樣品的補償性測試方法能檢測很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細絲也能立即辨認 |
鋁合金 | 能測試Mg, Al, Si, P等元素,能識別全系列的39種鋁合號 |
直讀光譜儀資料：
型全譜直讀光譜儀采用標準的設(shè)計和制造工藝技術(shù)，應(yīng)用了的CMOS信號采集元件,，每塊CMOS都可以單獨設(shè)值火花個數(shù),，與光譜儀yi流技術(shù)同步，采用真空光室設(shè)計及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀,，既包含了CCD光譜儀的全譜特性,，又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限，整機設(shè)計合理,，操作簡單易學(xué),，具有數(shù)據(jù)，長期穩(wěn)定性好等優(yōu)點,。
應(yīng)用領(lǐng)域
冶金,、鑄造、機械,、科研,、商檢、汽車,、石化,、造船、電力,、航空,、核電、金屬和有色冶煉,、加工和回收工業(yè)中的各種分析,。
可檢測基體
鐵基、銅基,、鋁基,、鎳基、鈷基,、鎂基,、鈦基、鋅基,、鉛基,、錫基、銀基,。
主要技術(shù)參數(shù)
v 光學(xué)系統(tǒng)：帕型-龍格 羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng)
v 波長范圍：140~680nm
v 光柵焦距：401mm
v 探 測 器：性能CMOS陣列/CCD陣列
v 光源類型：數(shù)字光源,，能預(yù)燃技術(shù)（HEPS）
v 放電頻率：100-1000Hz
v 放電電流：大500A
v 工作電源：AC220V 50/60Hz 1000W
v 檢測時間：依據(jù)樣品類型而定，一般20S左右
v 電極類型：鎢材噴射電極
v 分析間隙：4mm
v 其他功能：真空,，溫度,，軟件自動控制；壓力,，通訊監(jiān)測
主要特點
v 性能光學(xué)系統(tǒng)
采用精度的CMOS元件可測定非金屬元素如C,、P,、S、As,、B,、N以及各種金屬元素含量；測定結(jié)果,，重復(fù)性及長期穩(wěn)定性好,。
v 自動光路校準
v 插拔式透鏡設(shè)計
真空光學(xué)系統(tǒng)采用*的入射窗與真空隔離，可在真空系統(tǒng)工作狀態(tài)下進行操作,，光學(xué)透鏡采用插拔式透鏡結(jié)構(gòu),，日常清洗維護方便快捷。
v 真空防返油技術(shù)
v 開放式激發(fā)臺
開放式激發(fā)臺機靈活的樣品夾設(shè)計,，以滿足客戶現(xiàn)場的各種形狀大小的樣品分析,；配合使用小樣品夾具，線材低分析可達到3mm,。
v 噴射電極技術(shù)
v 集成氣路模塊
氣路系統(tǒng)采用氣路模塊免維護設(shè)計,，替代電磁閥和流量計，電極自吹掃功能,，為激發(fā)創(chuàng)造了良好的環(huán)境,。
v 數(shù)字化激發(fā)光源
v 速數(shù)據(jù)采集
儀器采用性能CMOS檢測元件，具有每塊CMOS單獨超速數(shù)據(jù)采集分析功能,，并能自動實時監(jiān)測控制光室溫度,、真空度、氬氣壓力,、光源,、激發(fā)室等模塊的運行狀態(tài)。
v 以太數(shù)據(jù)傳輸
v 多基體分析
v 軟件中英文系統(tǒng)
儀器軟件操作簡單,，*兼容于Windows7/8/10系統(tǒng),。
金屬含量檢測儀器
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