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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),地礦,綜合 |
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工業(yè)硅中鐵鋁鈣錳鈦鎳銅鉻釩鈉硼含量測定儀
工業(yè)硅化學(xué)分析方法 第4部分 雜質(zhì)元素含量的測定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法介紹
一,、概述
GB/T 14849.4-2014是中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn),主要規(guī)定了工業(yè)硅中雜質(zhì)元素含量的測定方法,,特別是采用電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES)進(jìn)行測定,。這一方法結(jié)合了原子發(fā)射光譜法的多元素同時(shí)測定優(yōu)點(diǎn)和較寬的線性范圍,適用于固,、液,、氣態(tài)樣品的直接分析。
二,、技術(shù)特點(diǎn)
多元素同時(shí)測定:ICP-AES技術(shù)允許同時(shí)對(duì)主,、次、痕量元素成分進(jìn)行測定,,提高了分析效率,。
寬線性范圍:該技術(shù)具有較寬的線性范圍,使得在測定不同濃度的元素時(shí)都能得到準(zhǔn)確的結(jié)果,。
直接分析:ICP-AES技術(shù)適用于固,、液、氣態(tài)樣品的直接分析,,無需復(fù)雜的樣品前處理過程,。
三、測定步驟
雖然具體的測定步驟在GB/T 14849.4-2014中詳細(xì)規(guī)定,,但通常ICP-AES法的分析過程可以概括為以下幾個(gè)步驟:
樣品準(zhǔn)備:將工業(yè)硅樣品進(jìn)行適當(dāng)?shù)奶幚?,如研磨,、溶解等,以便進(jìn)行后續(xù)的測定,。
激發(fā):利用電感耦合等離子體作為激發(fā)光源,,使樣品中的元素原子化并激發(fā)到高能級(jí)。
發(fā)射光譜:被激發(fā)的原子在回到基態(tài)時(shí)會(huì)發(fā)射特定波長的光,,形成發(fā)射光譜,。
光譜分析:通過光譜儀器將發(fā)射光譜分解為按波長排列的光譜線,利用光電器件檢測光譜,,并進(jìn)行定性和定量分析,。
四、應(yīng)用領(lǐng)域
規(guī)定的ICP-AES法不僅適用于工業(yè)硅中雜質(zhì)元素含量的測定,,也廣泛應(yīng)用于冶金,、機(jī)械、地質(zhì),、環(huán)保,、生化樣品分析以及食品安全監(jiān)控等多個(gè)領(lǐng)域。
五,、總結(jié)
中的電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法是一種高效,、準(zhǔn)確、多功能的分析技術(shù),,對(duì)于工業(yè)硅中雜質(zhì)元素含量的測定具有重要意義,。通過該技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)對(duì)工業(yè)硅中多種雜質(zhì)元素的快速,、準(zhǔn)確測定,,為工業(yè)硅的質(zhì)量控制提供有力支持。
工業(yè)硅中鐵鋁鈣錳鈦鎳銅鉻釩鈉硼含量測定儀
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