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檢測高純勃姆石中雜質元素含量儀器
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參考價 269900
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具體成交價以合同協(xié)議為準
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  • 品牌 其他品牌
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  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 深圳市
屬性

應用領域:化工,地礦,能源,電子,綜合

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更新時間:2025-01-23 11:08:01瀏覽次數(shù):1346評價

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應用領域 化工,地礦,能源,電子,綜合
檢測高純勃姆石中雜質元素含量儀器
電路連接
打開附件箱,,將黑色電源線接在穩(wěn)壓器上,,穩(wěn)壓器輸入端接到空氣開關上(確??諝忾_關最大輸出可以承受32A),。計算機的網口接口與儀器后方通訊輸出口連接,計算機,、打印機根據使用說明書要求連接,。高頻地線與儀器后方的接地接在一起。計算機地線與儀器地線互相連接,。

檢測高純勃姆石中雜質元素含量儀器

我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF),、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) ,、原子熒光光譜儀(AFS),、原子吸收分光光度計(AAS),、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC),、氣相質譜儀(GC-MS),、液相色譜儀(LC)、液相質譜儀(LC-MS),、能譜儀(EDS),、高頻紅外碳硫分析儀(CS)等。產品主要應用領域有電子電器,、五金塑膠,、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質:鉛Pb,、砷As,、銻Sb、鋇Ba,、鎘Cd,、鉻Cr、Hg,、硒Se以及氯等鹵族元素,、建材(水泥、玻璃,、陶瓷,、耐火材料等)、合金(銅合金,、鋁合金,、鎂合金等)、冶金(鋼鐵,、稀土,、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等),、地質采礦(各種礦石品位檢測設備),、塑料(無鹵測試等)、石油化工,、高嶺土,、煤炭、食品,、空氣,、水質、土壤,、環(huán)境保護,、香精香料、紡織品,、醫(yī)藥,、商品檢驗、質量檢驗,、醫(yī)療器械重金屬含量測試,、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析,,化合物測試,,電鍍鍍層厚度檢測等。下面介紹ICP儀器

本儀器的基本工作原理如下:

工作原理:射頻發(fā)生器產生的高頻功率通過感應工作線圈加到三層同心石英炬管上,,形成高頻振蕩電磁場,; 在石英炬管的外層通入氬氣,并進行高壓放電產生帶電粒子,,帶電粒子在高頻電磁場中往復運動與其他氬原子碰撞,,產生更多的帶電粒子,同時溫度升高,,最終形成氬氣等離子體,,等離子體的溫度可達 6000K~8000K。待測水溶液試樣通過霧化器形成的氣溶膠進入石英炬管中心通道,,在高溫環(huán)境下受到激發(fā),,發(fā)射出溶液中所含元素的特征譜線;通過對等離子體光源進行采光,,并利用掃描分光器進行掃描分光,,將待測元素的特征譜線光強準確定位于出口狹縫處,利用光電倍增管將該譜線光強轉變成光電流,,再經電路處理和模數(shù)變換后,,進入計算機進行數(shù)據處理,最后由打印機打印出分析結果,。

.ICP 形成原理

高頻發(fā)生器的工作頻率是 27.12MHz,,最大輸出功率 1500W。主要作用是產生高頻電磁場,,供給等離子體能量,。炬管是一個三層同心石英玻璃管,外層管內通入冷卻氬氣,,以避免等離子炬燒壞石英管,。中層石英管出口做成喇叭形狀,通入氬氣以維持等離子體,。內層石英管的內徑為 1mm-2mm,,由載氣將試樣氣溶膠從內管引入等離子體,。

當高頻電源與圍繞在等離子炬管外的負載感應線圈接通時,高頻感應電流流過線圈,,產生軸向高頻磁場,。此時向炬管的外管內切線方向通入冷卻氬氣,中層管內軸向(或切向)通入輔助氣體氬氣,,并用高頻點火裝置激發(fā)產生帶電粒子,,當帶電粒子流子多至足以使氣體有足夠的導電率時,在垂直于磁場方向的截面上產生環(huán)形渦電流,。

幾百安的強大感應電流瞬間將氣體加熱至 6000K-8000K,,在炬管口上方形成一個火炬狀的穩(wěn)定的等離子炬。

2.3.2固態(tài)發(fā)生器及自動匹配箱

固態(tài)發(fā)生器

ICP 高頻發(fā)生器為公司自主研發(fā)的全固態(tài)射頻發(fā)生器,,采用它激式振蕩電路,,輸出最大功率為 1500W,頻率為 27.12MHz,。相比于自激震蕩式電子管射頻發(fā)生器,,全固態(tài)射頻發(fā)生器具有體積更小、輸出功率更高,、頻率功率更加穩(wěn)定,、電源效率更高等諸多優(yōu)點。

自動匹配箱

ICP 自動匹配箱具有匹配速度快,、精度高等優(yōu)點,,免去了人工匹配的諸多麻煩操作。

2.3.3掃描分光器

9.掃描分光儀工作原理圖

分光器由光室,、入射狹縫,、反光鏡、光柵,、出射狹縫和光柵驅動裝置組成,。光柵刻線密度可選,規(guī)格分別為:2400l/mm,、3600l/mm 或者 4320l/mm,,光室焦距為 1000mm。ICP 發(fā)出的復合光經入射狹縫射到反射鏡上,, 再由反射鏡反射到光柵上衍射生成單色光,。由計算機控制光柵驅動裝置,轉動光柵將需要的光譜波長反射鏡到出

射狹縫,,由光電倍增管接受光信號,,并進行光電轉換,之后進行強度檢測對比。

2.3.4電子測量及控制電路

電路系統(tǒng)共有通訊,、氣路控制,、步進電機控制和信號采集四項功能。

1,、通訊

采用RJ45 網口作為儀器和計算機之間的通訊接口,。具有接口穩(wěn)定、通訊速度快,、抗干擾能力強等諸多優(yōu)點。

2,、氣路控制

ICP700T 的氣路采用*的 MFC(質量流量控制器)作為控制部件,,分別控制等離子氣、載氣,、輔氣,,控制精度高,響應速度快,,流量穩(wěn)定,,同時帶有流量反饋功能,可以實時監(jiān)視各路氣體實際流量,,確保進樣系統(tǒng)工作穩(wěn)定,,提高儀器的重復性與穩(wěn)定性。

3,、光柵馬達驅動部分電路原理

在步進電機四八拍(每拍 0.9°)的基礎上,,采用電路微分技術,使電機轉動一周為 12800 步,。根據計算機表中填的波長計算出應走的步數(shù),,再由 CPU 控制內部接口電路,通過單片機發(fā)送脈沖數(shù)和方向來控制步進電機轉動相應的定位步數(shù),。

4,、信號采集電路

采用高精度高阻抗的運算放大器作為信號輸出的調節(jié)放大電路,由中央處理器控制放大器的放大信號,。信號經一級 I/V 轉化二級信號放大后輸出到 VF 轉換芯片上,,再通過 FPGA 計數(shù)后經網口接到計算機進行數(shù)據處理, 由線性電源提供給整個電路,。

產品規(guī)格與技術指標

3.1高頻發(fā)生器

1)電路類型:全固態(tài)射頻電源,、全自動匹配功能。

2)工作頻率:27.12MHz

3) 頻率穩(wěn)定性:<0.1%

4) 輸出功率:800W ~1500W

5)輸出功率穩(wěn)定性:≤0.2%

6)電磁場泄漏輻射強度:距機箱 30cm 處,,電場:E﹤10V/m,; 磁場:H﹤0.2A/m

7) 輸入電源:220V,30A

8)輸出工作線圈內徑 25mm、3 匝,,配三同心外徑 20mm 的石英炬管

9)同軸型噴霧器外徑 6mm,;雙筒型霧室外徑 35mm

10)三路氣體控制流量大小

等離子氣流量計: 60~1200)L/h   或   (1~20)    L/min 輔助氣流量計:  (3~60)  L/h  或  (0.05~1.0)  L/min 載氣流量計: (3~60) L/h 或 (0.05~1.0) L/min

11)冷卻水:水溫范圍 20℃~25℃,流量大于 7 L/min,,水壓力大于 0.1MPa,,冷卻水電阻率大于 1MΩ。

3.2掃描分光器

1) 光路: Czerny turner 型

2) 焦距: 1000mm

3)光柵規(guī)格:

光柵類型:離子刻蝕全息光柵

刻線密度:2400L/mm,、3600L/mm,、4320L/mm; 刻劃面積:(80×110)mm

4)線色散倒數(shù): 0.26nm/mm

5)分辨率:

0.015nm(2400 線光柵)

0.008nm(3600 線光柵)

0.005nm(4320 線光柵)

6)掃描波長范圍:

2400 線光柵:(190~800) nm

3600 線光柵:(190~500) nm

4320 線光柵:(190~460) nm

7)步進電機驅動最小步距:≤0.0004nm

8) 反射鏡規(guī)格:(80×105)mm

9) 透鏡: Φ30,,1:1 成像

3.3電子測量及控制電路

1)   光電倍增管規(guī)格: 濱松PMT

2)    光電倍增管負高壓: -50~-1000)V

3) 光電倍增管電流測量范圍: (10~12~10~4)A

4)信號采集: VF 轉換

5)通信電路: 網口通信

3.4計算機系統(tǒng)

1)主流品牌電腦一套,,適用于 XP、WIN7 操作系統(tǒng)

2)打印機:佳能

3.5整機技術指標

1)掃描波長范圍:

a) 195nm~800nm(2400L/mm 光柵)

b) 195nm~500nm(3600L/mm 光柵)

c) 195nm~460nm(4320L/mm 光柵)

2)重復性: 相對標準偏差RSD≤1.5% ,;

3)穩(wěn)定性: 相對標準偏差RSD≤2%,;

4)檢出限(µg/L):

元素 La Ce Pr Nd Sm Eu Gd Tb

波長(nm) 408.672 413.765 414.311 401.225 360.946 381.967 342.247 350.917

檢出限 <3.0<5.0<5.0<5.0<10.0<1.0<10.0<3.0

元素 Dy Ho Er Tm Yb Lu Y Sc

波長(nm) 353.170 345.600 337.271 313.126 369.419 261.541 371.030 335.373

檢出限 <3.0<3.0<3.0<3.0<1.0<3.0<1.0<1.0

元素 Ta Nb Mn Mg B Zn Co Si

波長(nm) 226.230 313.340 257.610 279.553 249.773 213.856 228.616 251.611

檢出限 <5.0<5.0<3.0<1.0<10.0<3.0<3.0<10.0

元素 Ni Cd Fe Ca Mo V Be Ti

波長(nm) 232.003 226.502 239.562 393.366 281.615 310.230 313.041 334.941

檢出限 <5.0<3.0<3.0<1.0<5.0<5.0<1.0<3.0

元素 Cu Cr Al Zr Ag Sr Au Pt

波長(nm) 324.754 267.716 396.152 343.823 328.068 407.771 242.795 265.945

檢出限 <3.0<5.0<5.0<5.0<3.0<1.0<5.0<5.0

元素 Pd Ir Rh Ru Ba Li Na K

波長(nm) 340.458 224.268 343.489 240.272 455.403 670.784 588.995 766.490

檢出限 <5.0<10.0<10.0<5.0<1.0≤3 ≤20 ≤60

元素 As Sb Bi Hg Pb Ga Os W

波長(nm) 228.812 206.833 223.061 253.652 220.353 294.364 225.585 207.911

檢出限 ≤15 ≤15 ≤10 ≤15 ≤15 ≤10 ≤1 ≤10

元素 Sn Te Ta Th Tl Re Ge Se

波長(nm) 242.949 214.281 226.230 283.730 276.787 227.525 209.426 203.985

檢出限 ≤20 ≤10 ≤5.0 ≤10 ≤30 ≤5 ≤15 ≤30

檢測高純勃姆石中雜質元素含量儀器

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