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我公司銷(xiāo)售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長(zhǎng)色散型）（XRF）,、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、原子熒光光譜儀（AFS）,、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）,、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）,、液相色譜儀（LC）,、能譜儀（EDS）、頻紅外碳硫分析儀（CS Analyzer）,、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等,。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠,、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)等）,、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb、砷Ａs,、銻Sb,、鋇Ｂa、鎘Cd,、鉻Cr,、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素,、建材（水泥,、玻璃、陶瓷等）,、合金（銅合金,、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵,、稀土,、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）,、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備）,、塑料（無(wú)鹵測(cè)試等）、石油化工,、嶺土,、煤炭、食品,、空氣,、水質(zhì)、土壤,、,、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn),、人體微量元素檢驗(yàn)等等,。總之銷(xiāo)售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測(cè)試,，電鍍鍍層厚度檢測(cè),。

檢測(cè)鋼鐵元素成分含量（含各種合金，不銹鋼等）,，簡(jiǎn)單方便的是X熒光光譜儀,，精度更高穩(wěn)定性更好的是實(shí)驗(yàn)室使用的專(zhuān)業(yè)測(cè)試鋼材成分設(shè)備的是OES光電直讀光譜儀，介紹如下：

測(cè)試金屬含量?jī)x器

儀器介紹：

  手持式儀器簡(jiǎn)介：

合金分析儀*性能

. 超的檢測(cè)精度度,。

. 超的穩(wěn)定性,，超的重復(fù)性。

. 優(yōu)異的線性相關(guān)性,。

. 采用了*重新設(shè)計(jì)的射線管,、無(wú)壓電源線、無(wú) RF 噪音,、更好的X射線屏蔽,。

. 結(jié)構(gòu)更精密，縮短了射線管,、探測(cè)器與被測(cè)樣品之間的距離,，對(duì)于某些應(yīng)用信號(hào)提了~40%.

. 超過(guò)1/3的機(jī)體采用鋁合金外殼設(shè)計(jì)，儀器頂部有的槽式散熱裝置,，整個(gè)體系使散熱非常有效,，延長(zhǎng)機(jī)器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定，從而故障率極低。

. SDD X射線探測(cè)器具有驚人的計(jì)數(shù)率,達(dá)200000,比普通的Si-Pin X射線探測(cè)器獲取數(shù)據(jù)的能力10倍,。

. 可測(cè)試Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素,。

. 內(nèi)置的氣壓計(jì)可以糾正氣壓，氣壓計(jì)壓力感應(yīng), 可根據(jù)不同的壓力調(diào)整,，從而是檢測(cè)值更加準(zhǔn)確,，儀器預(yù)設(shè)海平面,，客戶(hù)在不同的海拔度測(cè)試,，無(wú)需再次校準(zhǔn)。

. 內(nèi)置的加速器可探測(cè)運(yùn)動(dòng)和震動(dòng),，使儀器不用時(shí)待機(jī),，拿起時(shí)工作。

. 智能接駁座可對(duì)額外電池充電,、儀器內(nèi)置電池同時(shí)充電并顯示充電進(jìn)度,，接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù)，可讓儀器即時(shí)標(biāo)準(zhǔn)化,，儀器隨時(shí)待命狀態(tài),。

. 儀器即使在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機(jī)，在系統(tǒng)運(yùn)作中拔掉電池,，有超過(guò)30秒的時(shí)間可以插入一個(gè)新電池,。

. 儀器外殼采用鋁合金、塑膠設(shè)計(jì),，堅(jiān)固耐用,，手柄軟膠設(shè)計(jì)，手感好,更適合長(zhǎng)時(shí)間使用,。

. 儀器具有很好的平衡性,，在測(cè)試時(shí)能立于工作臺(tái)上，不需要用手扶持,，一鍵式按鈕設(shè)計(jì),，即使長(zhǎng)時(shí)間操作也無(wú)疲勞感。

合金分析儀技術(shù)性能

. 真正實(shí)現(xiàn)在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行無(wú)損,快速,準(zhǔn)確的檢測(cè),直接顯示元素的百分比含量,。

. 只需將合金分析儀直接接觸待測(cè)合金表面,，無(wú)須等待和花費(fèi)時(shí)間即可現(xiàn)場(chǎng)確定合金等級(jí)。

. 被檢測(cè)的樣品的對(duì)象可以是合金塊,、合金片,、合金線、合金渣,、合金粉,。

. 不規(guī)則或小型樣品的補(bǔ)償性測(cè)試方法能檢測(cè)很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細(xì)絲也能立即辨認(rèn)。

. 可延伸的探頭設(shè)計(jì)能對(duì)管道內(nèi)部、焊縫,等位置進(jìn)行檢測(cè),。

. 可檢測(cè)溫度達(dá)450℃的溫材料,。

. 可現(xiàn)場(chǎng)在庫(kù)中添加,編輯,刪除合號(hào)。

. 快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識(shí)別合金元素,。

. 用戶(hù)化windows CE 6.0系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場(chǎng)完成,，用戶(hù)化windows CE僅保留有基本的windows與Delta系統(tǒng)有關(guān)的性能，使程序更具靈活性,。

. 無(wú)需借助電腦,，可在現(xiàn)場(chǎng)隨意，查看,，放大相關(guān)元素的光譜圖,。

. 防塵,防霧,防水：一體機(jī)設(shè)計(jì)，軟膠與塑膠部件凸槽 & 凹槽 構(gòu)造設(shè)計(jì),，使儀器具有很好的三防性能,，可承受e劣的工作環(huán)境,大霧,下雨,塵土飛揚(yáng)工裝場(chǎng)地也能正常工作。

. 腰帶,、,、肩帶能將儀器牢牢地固定在你的腰部，可在野外活動(dòng)自如,。

. 更的檢測(cè)精度,，多次測(cè)試的平均值統(tǒng)計(jì)功能可有效地提儀器的檢測(cè)精度。

. 超大的圖標(biāo)顯示,，菜單式驅(qū)動(dòng),，微電腦WINDOWS系統(tǒng)使儀器操作更加簡(jiǎn)便。

. 電磁干擾被屏蔽,，即使在靠近或雙向無(wú)線通信裝置處也能正常工作,。

合金分析儀元素分析范圍

可分析從從12號(hào)元素Mg到94號(hào)元素PU之間的所有合金。

合金分析儀用途及應(yīng)用

用于現(xiàn)場(chǎng),，無(wú)損，快速,，準(zhǔn)確分析檢測(cè)合金元素和合號(hào)的識(shí)別,。

合金材料鑒別（PMI）

來(lái)料檢驗(yàn)；庫(kù)存材料管理,；安裝材料復(fù)檢

便攜式XRF 合金分析儀用以確保生產(chǎn)設(shè)備與管道中所使用的合金零部件與設(shè)計(jì)要求的規(guī)格**,。

便攜式XRF 合金分析儀攜帶方便,，使用簡(jiǎn)單，分析速度快,，精度,，其結(jié)果直接顯示合號(hào)、金屬成分的百分比含量,，從而使便攜式XRF 合金分析儀成為合金材料鑒別的*di一供應(yīng)商,。

金屬?gòu)U料回收

廢舊金屬的回收、再利用需要Innov-X 便攜式XRF 合金分析儀,，確保對(duì)大量繁雜多樣的合金種類(lèi)及材料品質(zhì),，進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)快速準(zhǔn)確的分析檢測(cè)。

質(zhì)量保證與質(zhì)量控制（QA/QC）

在金屬制造行業(yè)中,，材料,、半成品,、成品的質(zhì)量保證與質(zhì)量控制（QA/QC）是*的,，混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來(lái)?yè)p失。Innov-X 便攜式XRF 合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機(jī)制造商的各種制造業(yè),。已成為質(zhì)量體系中材料確認(rèn),、半成品檢驗(yàn)、成品復(fù)檢的儀器.

合金分析儀技術(shù)規(guī)格

直讀光譜儀簡(jiǎn)介：

型全譜直讀光譜儀采用標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù),，應(yīng)用了的CMOS信號(hào)采集元件，每塊CMOS都可以單獨(dú)設(shè)值火花個(gè)數(shù),，與光譜儀yi流技術(shù)同步,，采用真空光室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀,，既包含了CCD光譜儀的全譜特性,，又具備PMT光譜儀對(duì)非金屬元素的極低檢出限,，整機(jī)設(shè)計(jì)合理，操作簡(jiǎn)單易學(xué),，具有數(shù)據(jù),，長(zhǎng)期穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)。

應(yīng)用領(lǐng)域

冶金,、鑄造,、機(jī)械、科研,、商檢,、汽車(chē)、石化,、造船,、電力、航空,、核電,、金屬和有色冶煉、加工和回收工業(yè)中的各種分析,。

可檢測(cè)基體

鐵基,、銅基、鋁基,、鎳基,、鈷基、鎂基,、鈦基,、鋅基、鉛基,、錫基,、銀基。

主要技術(shù)參數(shù)

v  光學(xué)系統(tǒng)：帕型-龍格 羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng)

v  波長(zhǎng)范圍：140~680nm

v  光柵焦距：401mm

v  探 測(cè) 器：性能CMOS陣列/CCD陣列

v  光源類(lèi)型：數(shù)字光源,，能預(yù)燃技術(shù)（HEPS）

v  放電頻率：100-1000Hz

v  放電電流：大500A

v  工作電源：AC220V 50/60Hz 1000W

v  檢測(cè)時(shí)間：依據(jù)樣品類(lèi)型而定,，一般20S左右

v  電極類(lèi)型：鎢材噴射電極

v  分析間隙：4mm

v  其他功能：真空，溫度,，軟件自動(dòng)控制,；壓力，通訊監(jiān)測(cè)

主要特點(diǎn)

v  性能光學(xué)系統(tǒng)

采用精度的CMOS元件可測(cè)定非金屬元素如C,、P,、S、As,、B,、N以及各種金屬元素含量,；測(cè)定結(jié)果，重復(fù)性及長(zhǎng)期穩(wěn)定性hao,。

v  自動(dòng)光路校準(zhǔn)

自動(dòng)光路校準(zhǔn),，光學(xué)系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)行譜線掃描，確保接收的正確性,，免除繁瑣的波峰掃描工作,；

儀器自動(dòng)識(shí)別特定譜線與原存儲(chǔ)線進(jìn)行對(duì)比，確定漂移位置,，找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測(cè)定,。

v  插拔式透鏡設(shè)計(jì)

真空光學(xué)系統(tǒng)采用*的入射窗與真空隔離，可在真空系統(tǒng)工作狀態(tài)下進(jìn)行操作,，光學(xué)透鏡采用插拔式透鏡結(jié)構(gòu),，日常清洗維護(hù)方便快捷。

v  真空防返油技術(shù)

多級(jí)隔離的真空防返油技術(shù),，采用真空壓差閥門(mén)保證真空泵不工作時(shí)真空光室與真空*隔離,；中間增加了真空濾油裝置，確保真空泵中油不進(jìn)入真空室,，保障CMOS檢測(cè)器及光學(xué)元件在可靠環(huán)境中工作,。

v  開(kāi)放式激發(fā)臺(tái)

開(kāi)放式激發(fā)臺(tái)機(jī)靈活的樣品夾設(shè)計(jì)，以滿(mǎn)足客戶(hù)現(xiàn)場(chǎng)的各種形狀大小的樣品分析,；配合使用小樣品夾具，線材低分析可達(dá)到3mm,。

v  噴射電極技術(shù)

采用的噴射電極技術(shù),，使用鎢材料電極，在激發(fā)狀態(tài)下,，電極周?chē)鷷?huì)形成氬氣噴射氣流,，這樣在激發(fā)過(guò)程中激發(fā)點(diǎn)周?chē)粫?huì)與外界空氣接觸，提激發(fā)精度,；配上du特氬氣氣路設(shè)計(jì),，大大降低了氬氣使用量，也降低客戶(hù)使用成本,。

v  集成氣路模塊

氣路系統(tǒng)采用氣路模塊免維護(hù)設(shè)計(jì),，替代電磁閥和流量計(jì)，電極自吹掃功能,，為激發(fā)創(chuàng)造了良好的環(huán)境,。

v  數(shù)字化激發(fā)光源

數(shù)字激發(fā)光源，采用為的等離子激發(fā)光源,，超穩(wěn)定能量釋放在氬氣環(huán)境中激發(fā)樣品,；可任意調(diào)節(jié)光源的各項(xiàng)參數(shù),，滿(mǎn)足各種不同材料的激發(fā)要求。

v  速數(shù)據(jù)采集

儀器采用性能CMOS檢測(cè)元件,，具有每塊CMOS單獨(dú)超速數(shù)據(jù)采集分析功能,，并能自動(dòng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)控制光室溫度、真空度,、氬氣壓力,、光源、激發(fā)室等模塊的運(yùn)行狀態(tài),。

v  以太數(shù)據(jù)傳輸

計(jì)算機(jī)和光譜儀之間使用以太網(wǎng)卡和TCP/IP協(xié)議,，避免電磁干擾，光纖老化的弊端,，同時(shí)計(jì)算機(jī)和打印機(jī)*外置,，方便升級(jí)和更換；可以遠(yuǎn)程監(jiān)控儀器狀態(tài),，多通路操控系統(tǒng)控制和監(jiān)控所有的儀器參數(shù),。

v  預(yù)制工作曲線

備有不同材質(zhì)和牌號(hào)的標(biāo)樣庫(kù)，儀器出廠時(shí)工廠預(yù)制工作曲線,，方便安裝調(diào)試和及時(shí)投入生產(chǎn),；根據(jù)元素和材質(zhì)對(duì)應(yīng)的分析程序而稍有差異，激發(fā)和測(cè)試參數(shù)儀器出廠時(shí)已經(jīng)調(diào)節(jié)好,，根據(jù)分析程序可自動(dòng)選擇優(yōu)測(cè)試條件,。

v  分析速度快

分析速度快，僅需20秒即可完成一次分析,；針對(duì)不同的分析材料,，通過(guò)設(shè)置預(yù)燃時(shí)間及測(cè)量時(shí)間，使儀器用短時(shí)間達(dá)到優(yōu)的分析效果,。

v  多基體分析

光路設(shè)計(jì)采用羅蘭圓結(jié)構(gòu),，檢測(cè)器上下交替排列，保證接收全部的譜線,，不增加硬件設(shè)施,，即可實(shí)現(xiàn)多基體分析；便于根據(jù)生產(chǎn)的需要增加基體及材料種類(lèi)和分析元素（無(wú)硬件成本）,。

v  軟件中英文系統(tǒng)

儀器軟件操作簡(jiǎn)單,，*兼容于Windows7/8/10系統(tǒng)。

測(cè)試金屬含量?jī)x器