目錄:深圳市天創(chuàng)美科技有限公司>>金屬元素檢測儀>>金屬含量檢測>> 金屬含量測試儀器
產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,農(nóng)林牧漁,包裝/造紙/印刷,航空航天,電氣 |
我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP),、原子熒光光譜儀(AFS),、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES),、氣相色譜儀(GC),、液相色譜儀(LC)、能譜儀(EDS),、頻紅外碳硫分析儀(CS Analyzer),、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器,、五金塑膠,、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質(zhì):鉛Pb,、砷As,、銻Sb、鋇Ba,、鎘Cd,、鉻Cr、Hg,、硒Se以及氯等鹵族元素,、建材(水泥、玻璃,、陶瓷等),、合金(銅合金、鋁合金,、鎂合金等),、冶金(鋼鐵、稀土,、鉬精礦,、其它黑色及有色金屬等)、地質(zhì)采礦(各種礦石品位檢測設(shè)備),、塑料(無鹵測試等),、石油化工、嶺土,、煤炭,、食品、空氣、水質(zhì),、土壤,、、商品檢驗,、質(zhì)量檢驗,、人體微量元素檢驗等等。總之銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析,,化合物測試,,電鍍鍍層厚度檢測。
檢測鋼鐵元素成分含量(含各種合金,,不銹鋼等),,簡單方便的是X熒光光譜儀,精度更高穩(wěn)定性更好的是實驗室使用的專業(yè)測試鋼材成分設(shè)備的是OES光電直讀光譜儀,,介紹如下:
金屬含量測試儀器
儀器介紹:
手持式儀器資料:
X射線熒光光譜分析儀已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于地質(zhì),、采礦、金屬,、土壤,、環(huán)境、考古,、木材,、電子、醫(yī)藥,、環(huán)保,、啤酒、電力,、石化,、玩具、大型工程,。X射線熒光光譜分析儀,,有效檢的應(yīng)對有害元素檢測、合金分析,、礦石分析,、環(huán)境分析的產(chǎn)品,目前正服務(wù)于伊朗核查和歐美各大海關(guān)等重要部門,。
合金分析儀*性能
. 超的檢測精度度,。
. 超的穩(wěn)定性,超的重復(fù)性,。
. 優(yōu)異的線性相關(guān)性,。
. 超過1/3的機體采用鋁合金外殼設(shè)計,,儀器頂部有的槽式散熱裝置,整個體系使散熱非常有效,,延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定,,從而故障率極低。
. SDD X射線探測器具有驚人的計數(shù)率,達200000,比普通的Si-Pin X射線探測器獲取數(shù)據(jù)的能力10倍,。
. 可測試Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素。
. 內(nèi)置的氣壓計可以糾正氣壓,,氣壓計壓力感應(yīng), 可根據(jù)不同的壓力調(diào)整,,從而是檢測值更加準(zhǔn)確,儀器預(yù)設(shè)海平面,,客戶在不同的海拔度測試,,無需再次校準(zhǔn)。
. 內(nèi)置的加速器可探測運動和震動,,使儀器不用時待機,,拿起時工作。
. 智能接駁座可對額外電池充電,、儀器內(nèi)置電池同時充電并顯示充電進度,,接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù),可讓儀器即時標(biāo)準(zhǔn)化,,儀器隨時待命狀態(tài),。
. 儀器即使在開機狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機,在系統(tǒng)運作中拔掉電池,,有超過30秒的時間可以插入一個新電池,。
. 儀器開機并不需要標(biāo)準(zhǔn)化,可以直接測試,,標(biāo)準(zhǔn)化僅僅是可選項,。
. 儀器外殼采用鋁合金、塑膠設(shè)計,,堅固耐用,,手柄軟膠設(shè)計,手感好,更適合長時間使用,。
. 儀器具有很好的平衡性,,在測試時能立于工作臺上,不需要用手扶持,,一鍵式按鈕設(shè)計,,即使長時間操作也無疲勞感。
. 工業(yè)級可觸摸的顯示屏與主機一體化密封設(shè)計,,可承受野外惡劣的工作環(huán)境,。密封的儀器可在雨天,、塵土飛揚的礦山環(huán)境中長時間正常工作。
合金分析儀技術(shù)性能
. 真正實現(xiàn)在現(xiàn)場進行無損,快速,準(zhǔn)確的檢測,直接顯示元素的百分比含量,。
. 只需將合金分析儀直接接觸待測合金表面,,無須等待和花費時間即可現(xiàn)場確定合金等級。
. 被檢測的樣品的對象可以是合金塊,、合金片,、合金線、合金渣,、合金粉,。
. 不規(guī)則或小型樣品的補償性測試方法能檢測很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細絲也能立即辨認(rèn)。
. 可延伸的探頭設(shè)計能對管道內(nèi)部,、焊縫,等位置進行檢測,。
. 可檢測溫度達450℃的溫材料。
. 可現(xiàn)場在庫中添加,編輯,刪除合號,。
. 快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識別合金元素,。
. 用戶化windows CE 6.0系統(tǒng)驅(qū)動的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場完成,用戶化windows CE僅保留有基本的windows與Delta系統(tǒng)有關(guān)的性能,,使程序更具靈活性,。
. 無需借助電腦,可在現(xiàn)場隨意,,查看,,放大相關(guān)元素的光譜圖。
. 防塵,防霧,防水:一體機設(shè)計,,軟膠與塑膠部件凸槽 & 凹槽 構(gòu)造設(shè)計,,使儀器具有很好的三防性能,可承受e劣的工作環(huán)境,大霧,下雨,塵土飛揚工裝場地也能正常工作,。
. 更的檢測精度,,多次測試的平均值統(tǒng)計功能可有效地提儀器的檢測精度。
. 超大的圖標(biāo)顯示,,菜單式驅(qū)動,,微電腦WINDOWS系統(tǒng)使儀器操作更加簡便。
. 電磁干擾被屏蔽,,即使在靠近或雙向無線通信裝置處也能正常工作,。
合金分析儀元素分析范圍
可分析從從12號元素Mg到94號元素PU之間的所有合金。
合金分析儀器的分析模式與元素種類 | |
分析模式 | 分析元素 |
元素分析范圍 | 分析范圍:從12號元素Mg鎂到94號元素PU范圍內(nèi)的31種基本元素,,在以上范圍內(nèi),,可以根據(jù)客戶需要更換其他元素。 |
Alloy Beam1模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素,。 |
Alloy Beam2模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
直讀光譜儀簡介:
型全譜直讀光譜儀采用標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計和制造工藝技術(shù),,應(yīng)用了的CMOS信號采集元件,,每塊CMOS都可以單獨設(shè)值火花個數(shù),與光譜儀yi流技術(shù)同步,,采用真空光室設(shè)計及全數(shù)字激發(fā)光源,。這款CMOS光譜儀,既包含了CCD光譜儀的全譜特性,,又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限,,整機設(shè)計合理,操作簡單易學(xué),,具有數(shù)據(jù),,長期穩(wěn)定性好等優(yōu)點。
應(yīng)用領(lǐng)域
冶金,、鑄造、機械,、科研,、商檢、汽車,、石化,、造船、電力,、航空,、核電、金屬和有色冶煉,、加工和回收工業(yè)中的各種分析,。
可檢測基體
鐵基、銅基,、鋁基,、鎳基、鈷基,、鎂基,、鈦基、鋅基,、鉛基,、錫基、銀基,。
主要技術(shù)參數(shù)
v 光學(xué)系統(tǒng):帕型-龍格 羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng)
v 波長范圍:140~680nm
v 光柵焦距:401mm
v 探 測 器:性能CMOS陣列/CCD陣列
v 光源類型:數(shù)字光源,,能預(yù)燃技術(shù)(HEPS)
v 放電頻率:100-1000Hz
v 放電電流:大500A
v 工作電源:AC220V 50/60Hz 1000W
v 檢測時間:依據(jù)樣品類型而定,一般20S左右
v 電極類型:鎢材噴射電極
v 分析間隙:4mm
v 其他功能:真空,,溫度,,軟件自動控制,;壓力,通訊監(jiān)測
主要特點
v 性能光學(xué)系統(tǒng)
采用精度的CMOS元件可測定非金屬元素如C,、P,、S、As,、B,、N以及各種金屬元素含量;測定結(jié)果,,重復(fù)性及長期穩(wěn)定性hao,。
v 自動光路校準(zhǔn)
自動光路校準(zhǔn),光學(xué)系統(tǒng)自動進行譜線掃描,,確保接收的正確性,,免除繁瑣的波峰掃描工作;
儀器自動識別特定譜線與原存儲線進行對比,,確定漂移位置,,找出分析線當(dāng)前的像素位置進行測定。
v 插拔式透鏡設(shè)計
真空光學(xué)系統(tǒng)采用*的入射窗與真空隔離,,可在真空系統(tǒng)工作狀態(tài)下進行操作,,光學(xué)透鏡采用插拔式透鏡結(jié)構(gòu),日常清洗維護方便快捷,。
v 真空防返油技術(shù)
多級隔離的真空防返油技術(shù),,采用真空壓差閥門保證真空泵不工作時真空光室與真空*隔離;中間增加了真空濾油裝置,,確保真空泵中油不進入真空室,,保障CMOS檢測器及光學(xué)元件在可靠環(huán)境中工作。
v 開放式激發(fā)臺
開放式激發(fā)臺機靈活的樣品夾設(shè)計,,以滿足客戶現(xiàn)場的各種形狀大小的樣品分析,;配合使用小樣品夾具,線材低分析可達到3mm,。
v 噴射電極技術(shù)
采用的噴射電極技術(shù),,使用鎢材料電極,在激發(fā)狀態(tài)下,,電極周圍會形成氬氣噴射氣流,,這樣在激發(fā)過程中激發(fā)點周圍不會與外界空氣接觸,提激發(fā)精度,;配上du特氬氣氣路設(shè)計,,大大降低了氬氣使用量,也降低客戶使用成本,。
v 集成氣路模塊
氣路系統(tǒng)采用氣路模塊免維護設(shè)計,,替代電磁閥和流量計,,電極自吹掃功能,為激發(fā)創(chuàng)造了良好的環(huán)境,。
v 數(shù)字化激發(fā)光源
數(shù)字激發(fā)光源,,采用為的等離子激發(fā)光源,超穩(wěn)定能量釋放在氬氣環(huán)境中激發(fā)樣品,;可任意調(diào)節(jié)光源的各項參數(shù),,滿足各種不同材料的激發(fā)要求。
v 速數(shù)據(jù)采集
儀器采用性能CMOS檢測元件,,具有每塊CMOS單獨超速數(shù)據(jù)采集分析功能,,并能自動實時監(jiān)測控制光室溫度、真空度,、氬氣壓力,、光源、激發(fā)室等模塊的運行狀態(tài),。
v 以太數(shù)據(jù)傳輸
計算機和光譜儀之間使用以太網(wǎng)卡和TCP/IP協(xié)議,,避免電磁干擾,光纖老化的弊端,,同時計算機和打印機*外置,,方便升級和更換,;可以遠程監(jiān)控儀器狀態(tài),,多通路操控系統(tǒng)控制和監(jiān)控所有的儀器參數(shù)。
v 預(yù)制工作曲線
備有不同材質(zhì)和牌號的標(biāo)樣庫,,儀器出廠時工廠預(yù)制工作曲線,,方便安裝調(diào)試和及時投入生產(chǎn);根據(jù)元素和材質(zhì)對應(yīng)的分析程序而稍有差異,,激發(fā)和測試參數(shù)儀器出廠時已經(jīng)調(diào)節(jié)好,,根據(jù)分析程序可自動選擇優(yōu)測試條件。
v 分析速度快
分析速度快,,僅需20秒即可完成一次分析,;針對不同的分析材料,通過設(shè)置預(yù)燃時間及測量時間,,使儀器用短時間達到優(yōu)的分析效果,。
金屬含量測試儀器
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