目錄:深圳市天創(chuàng)美科技有限公司>>金屬元素檢測儀>>金屬含量檢測>> 金屬含量分析儀器
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材/家具,電子/電池,紡織/印染,鋼鐵/金屬,汽車及零部件 |
我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）,、原子熒光光譜儀（AFS）,、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）,、氣相色譜儀（GC）,、液相色譜儀（LC）、能譜儀（EDS）,、頻紅外碳硫分析儀（CS Analyzer）,、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器,、五金塑膠,、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）,、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb、砷Ａs,、銻Sb,、鋇Ｂa、鎘Cd,、鉻Cr,、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素,、建材（水泥,、玻璃、陶瓷等）,、合金（銅合金,、鋁合金、鎂合金等）,、冶金（鋼鐵,、稀土、鉬精礦,、其它黑色及有色金屬等）,、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測設(shè)備）、塑料（無鹵測試等）,、石油化工,、嶺土、煤炭,、食品,、空氣、水質(zhì),、土壤,、、商品檢驗(yàn),、質(zhì)量檢驗(yàn),、人體微量元素檢驗(yàn)等等。總之銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析,，化合物測試,，電鍍鍍層厚度檢測。
檢測鋼鐵元素成分含量（含各種合金,，不銹鋼等）,，簡單方便的是X熒光光譜儀，精度更高穩(wěn)定性更好的是實(shí)驗(yàn)室使用的專業(yè)測試鋼材成分設(shè)備的是OES光電直讀光譜儀,，介紹如下：
金屬含量分析儀器
儀器介紹：
手持式儀器簡介：
合金分析儀技術(shù)規(guī)格
項(xiàng)目 | （標(biāo)準(zhǔn)型）合金分析儀Innov-X Delta |
尺寸與重量 | 外形尺寸：245x250x88mm,；重量<1.5KG |
環(huán)境要求 | 環(huán)境濕度0~95%,；環(huán)境工作溫度-20℃ ~50℃；亮黃 黑色,、銀白色相間 |
激發(fā)源 | 大功率微型直板電子X射線管,，內(nèi)置15kV~40kV多段可選擇的電壓；無壓電纜,、無射頻噪聲,、更好的X射線屏蔽、更好的散熱,。 |
射線管靶材 | Au,、Ag靶 |
X射線探測器 | 標(biāo)準(zhǔn)型SDD硅漂移探測器 |
濾波器 | 八個(gè)濾光片可自動(dòng)切換 |
光譜束 | 兩個(gè)光束段,，不同的元素采用不同的電壓與電流,，產(chǎn)生好的分析效果 |
智能接駁座 | 可對額外電池充電、儀器內(nèi)置電池同時(shí)充電并顯示充電進(jìn)度,，接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù),，可讓儀器即時(shí)標(biāo)準(zhǔn)化，儀器隨時(shí)待命狀態(tài) |
開機(jī)換電 | 儀器即使在開機(jī)狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機(jī),，時(shí)間可達(dá)30秒 |
標(biāo)準(zhǔn)化 | 儀器開機(jī)并不需要標(biāo)準(zhǔn)化,，可以直接測試，標(biāo)準(zhǔn)化僅僅是可選項(xiàng) |
平衡性 | 儀器具有很好的平衡性,，在測試時(shí)能立于工作臺上,，無需手扶，一鍵式按鈕設(shè)計(jì),，即使長時(shí)間操作也無疲勞感 |
散熱性 | 超過1/3的機(jī)體采用鋁合金外殼設(shè)計(jì),，儀器頂部有的槽式散熱裝置，整個(gè)體系使散熱非常有效,，延長機(jī)器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定,，從而故障率極低 |
顯示器固定方式 | 一體機(jī)設(shè)計(jì),整機(jī)連體構(gòu)造，PDA不可拆卸,可防塵,防霧,防水,故障低 |
數(shù)據(jù)顯示 | 百分比（%）顯示元素含量,，元素顯示順序可按能量,、濃度值、用戶自定義等方式排序,可統(tǒng)計(jì)多次測試的平均值,可接臺式電腦顯示;儀器在測試過程中同步動(dòng)態(tài)顯示化學(xué)成份 |
數(shù)據(jù)存儲 | ROM128M,、RAM128M,、2G SD卡，可存儲205000組數(shù)據(jù)與光譜 |
數(shù)據(jù)傳輸 | USB電纜,、無線藍(lán)牙進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸,，文件可采用TXT,EXCEL格式輸出。 |
處理器CPU | 532MHz CPU ,、Freescal，ARM1136-MX31處理器,，浮點(diǎn)運(yùn)算方式，速度大幅提 |
系統(tǒng)CPU外設(shè) | 采用USB總線, I2C,GPIO, 藍(lán)牙, 加速器,，實(shí)時(shí)的時(shí)鐘芯片,，微型SD 存儲卡 (可存儲2GB 數(shù)據(jù))，GPIO 條帶連接到扳機(jī)和PSM |
操作系統(tǒng) | 用戶化 windows CE 6.0系統(tǒng) |
Alloy Beam1模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素 |
Alloy Beam2模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
合金建模方式 | 基本參數(shù)法,，儀器在分析合金前不需要預(yù)先知道合金種類,，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)分析 |
合金種類 | 鐵合金系列、鎳基合金系列,、鈷基合金系列,、鈦基合金系列、銅基系列,、6. 溫合金,、鉬鎢合金、鋁合金,、混雜合金系列 |
合號 | 內(nèi)置合號351種,，用戶可自定義300種合號，能同時(shí)分析的合金651種,，能分析的合金達(dá)萬種,， |
小樣品測試 | 不規(guī)則或小型樣品的補(bǔ)償性測試方法能檢測很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細(xì)絲也能立即辨認(rèn) |
鋁合金 | 能測試Mg, Al, Si, P等元素,能識別全系列的39種鋁合 |
直讀光譜儀簡介：
這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性,，又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限,，整機(jī)設(shè)計(jì)合理，操作簡單易學(xué),，具有數(shù)據(jù),，長期穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)。
應(yīng)用領(lǐng)域
冶金,、鑄造,、機(jī)械、科研,、商檢,、汽車、石化,、造船,、電力、航空,、核電,、金屬和有色冶煉、加工和回收工業(yè)中的各種分析,。
可檢測基體
鐵基,、銅基,、鋁基、鎳基,、鈷基,、鎂基、鈦基,、鋅基,、鉛基、錫基,、銀基,。
主要技術(shù)參數(shù)
v 光學(xué)系統(tǒng)：帕型-龍格 羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng)
v 波長范圍：140~680nm
v 光柵焦距：401mm
v 探 測 器：性能CMOS陣列/CCD陣列
v 光源類型：數(shù)字光源，能預(yù)燃技術(shù)（HEPS）
v 放電頻率：100-1000Hz
v 放電電流：大500A
v 工作電源：AC220V 50/60Hz 1000W
v 檢測時(shí)間：依據(jù)樣品類型而定,，一般20S左右
v 電極類型：鎢材噴射電極
v 分析間隙：4mm
v 其他功能：真空,，溫度，軟件自動(dòng)控制,；壓力,，通訊監(jiān)測
主要特點(diǎn)
v 性能光學(xué)系統(tǒng)
采用精度的CMOS元件可測定非金屬元素如C、P,、S、As,、B,、N以及各種金屬元素含量；測定結(jié)果,，重復(fù)性及長期穩(wěn)定性hao,。
v 自動(dòng)光路校準(zhǔn)
v 插拔式透鏡設(shè)計(jì)
真空光學(xué)系統(tǒng)采用*的入射窗與真空隔離，可在真空系統(tǒng)工作狀態(tài)下進(jìn)行操作,，光學(xué)透鏡采用插拔式透鏡結(jié)構(gòu),，日常清洗維護(hù)方便快捷。
v 真空防返油技術(shù)
v 開放式激發(fā)臺
開放式激發(fā)臺機(jī)靈活的樣品夾設(shè)計(jì),，以滿足客戶現(xiàn)場的各種形狀大小的樣品分析,；配合使用小樣品夾具，線材低分析可達(dá)到3mm,。
v 噴射電極技術(shù)
v 集成氣路模塊
v 數(shù)字化激發(fā)光源
v 速數(shù)據(jù)采集
儀器采用性能CMOS檢測元件,，具有每塊CMOS單獨(dú)超速數(shù)據(jù)采集分析功能，并能自動(dòng)實(shí)時(shí)監(jiān)測控制光室溫度,、真空度,、氬氣壓力、光源,、激發(fā)室等模塊的運(yùn)行狀態(tài),。
v 以太數(shù)據(jù)傳輸
v 多基體分析
v 軟件中英文系統(tǒng)
儀器軟件操作簡單,，*兼容于Windows7/8/10系統(tǒng)。
金屬含量分析儀器
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