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電鍍膜厚測(cè)試方法及判定標(biāo)準(zhǔn)

閱讀:760      發(fā)布時(shí)間:2025-3-10
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電鍍膜厚測(cè)試方法及判定標(biāo)準(zhǔn)可分為以下兩大類,結(jié)合不同場(chǎng)景需求選擇:

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一,、測(cè)試方法

(一)破壞性測(cè)試

1. 庫(kù)侖法(電解法)  

   - 原理:通過(guò)電解液溶解鍍層,,利用電量與鍍層厚度的正比關(guān)系計(jì)算厚度。  

   - 適用場(chǎng)景:?jiǎn)螌?多層金屬鍍層(如Cu/Ni/Cr),、合金鍍層,尤其適合多層鎳鍍層的電位差測(cè)量,。  

   - 設(shè)備:電解測(cè)厚儀,。

2. 金相法  

   - 原理:通過(guò)金相顯微鏡觀察鍍層橫截面,直接測(cè)量厚度,。  

   - 適用場(chǎng)景:仲裁檢驗(yàn)或高精度需求(誤差小,,但需樣品制備耗時(shí))。  

   - 設(shè)備:金相顯微鏡,。

3. 掃描電鏡法(SEM)  

   - 原理:利用掃描電鏡成像軟件直接測(cè)量鍍層橫截面厚度,。  

   - 適用場(chǎng)景:納米級(jí)鍍層或復(fù)雜結(jié)構(gòu)分析,需樣品精細(xì)制備,。

(二)非破壞性測(cè)試

1. X射線熒光法(XRF)  

   - 原理:通過(guò)X射線激發(fā)鍍層元素特征輻射,,分析熒光強(qiáng)度與厚度的關(guān)系。  

   - 適用場(chǎng)景:多元素多層鍍層(如Au/Ni/Cu),,支持0.01μm~1mm厚度測(cè)量,,可同時(shí)分析成分。  

   - 設(shè)備:X射線熒光測(cè)厚儀,。

2. 磁性法/渦流法  

   - 原理:磁性法測(cè)量磁性基體上的非磁性鍍層(如鐵基鍍鋅),,渦流法測(cè)量非導(dǎo)電基體上的導(dǎo)電鍍層。  

   - 適用場(chǎng)景:快速現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè),,但適用范圍受限,。

3. β射線反向散射法  

   - 原理:利用β射線與鍍層原子相互作用后的散射強(qiáng)度推算厚度。  

   - 適用場(chǎng)景:非金屬基體上的薄鍍層檢測(cè),。

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二,、判定標(biāo)準(zhǔn)

(一)厚度標(biāo)準(zhǔn)

- 通用要求:鍍層厚度通常為0.02~0.03mm(20~30μm),特殊場(chǎng)景如汽車件可能要求更高,。

- 典型鍍層厚度示例:  

  - 鎳鍍層:≥8μm(防腐要求),;  

  - 鋅鍍層(藍(lán)鋅/彩鋅):6~8μm;  

  - 裝飾性鍍鉻:0.2~0.3μm,。

(二)性能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

1. 附著力測(cè)試  

   - 方法:3M膠帶法(180度彎折后無(wú)脫落),、劃格法(劃痕后膠帶粘附無(wú)剝離)。

   - 判定:無(wú)起泡,、剝落或露底材,。

2. 耐腐蝕性測(cè)試  

   - 鹽霧試驗(yàn):中性鹽霧(5% NaCl,35℃)測(cè)試16~96小時(shí),鍍層無(wú)銹蝕(如鍍鎳鉻需達(dá)7級(jí)以上),。

   - 高溫高濕測(cè)試:60~90℃,、濕度90%~95%環(huán)境下6小時(shí),無(wú)起泡,。

3. 孔隙率測(cè)試  

   - 貼濾紙法/浸漬法:通過(guò)顯色斑點(diǎn)數(shù)量評(píng)估孔隙率,,要求無(wú)密集斑點(diǎn)。

4. 耐磨性測(cè)試  

   - 標(biāo)準(zhǔn):500g負(fù)載下摩擦50次,,鍍層無(wú)變色或露底,。

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三、引用標(biāo)準(zhǔn)

- GB/T 4955(庫(kù)侖法),、GB/T 6462(金相法),、GB/T 16921(X射線法)等。

- ISO 1463(金相法),、ASTM B568(X射線法)等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),。

可根據(jù)實(shí)際需求選擇測(cè)試方法,并參考行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或客戶協(xié)議確定具體判定閾值,。更多設(shè)備選型及標(biāo)準(zhǔn)細(xì)節(jié)可查看,。

以上僅供參考

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