X熒光光譜儀的優(yōu)勢
閱讀：2395 發(fā)布時間：2020-4-2
X熒光光譜儀分析速度快,。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短,，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素,。
X射線熒光光譜跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關，而且跟固體,、粉末,、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關系,。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象,。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應更為顯著,。波長變化用于化學位的測定,。
非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變,，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象,。同一試樣可反復多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好,。
X射線熒光分析是一種物理分析方法,，所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。
分析精密度,。
制樣簡單,，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析,。
17
立即詢價
您提交后,，專屬客服將第一時間為您服務