以前對(duì)于電鍍膜厚測(cè)試,,一般都是用:量具法,磁性法,,顯微鏡法,,計(jì)時(shí)液流法,還有鍍層點(diǎn)滴法,、陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法等,。這種測(cè)試方法,在電鍍行業(yè),,對(duì)于電鍍層厚度的管控,,起到了一定的積極作用,但隨著電鍍行業(yè)的發(fā)展,,其不足也顯現(xiàn)出了,。
自從X光譜儀進(jìn)入中國(guó)市場(chǎng),特別是近年,,國(guó)內(nèi)X光譜儀生產(chǎn)廠家如雨后春筍般興起,,給電鍍層測(cè)試帶來(lái)了革命性的變化。
?。毓庾V儀測(cè)試電鍍膜厚,,優(yōu)勢(shì)日益顯著。測(cè)試速度與老舊的測(cè)試方法相比,,快了很多,,一般40秒左右就可以出結(jié)果。
更讓人欣喜的是隨著X光譜儀技術(shù)的發(fā)展,,現(xiàn)在可以做到一款X光譜儀就可以測(cè)試電鍍膜厚厚度,,金屬元素成分分析,合金鋼材測(cè)量,,礦石品位測(cè)定,,環(huán)保ROHS檢測(cè)。
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